[發(fā)明專利]DAC開關(guān)失配誤差的數(shù)字測量

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611156264.1
• 申請日: 2016-12-15
• 公開（公告）號: CN106888020B
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙嘉林
• 申請（專利權(quán)）人: 美國亞德諾半導(dǎo)體公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 中國貿(mào)促會專利商標事務(wù)所有限公司 11038
• 代理人: 王莉莉

1.一種用于測量反饋數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC的元件之中的開關(guān)失配誤差的方法，包括：

將固定頻率方波信號應(yīng)用于反饋DAC的測試中的元件的輸入，其中所述反饋DAC具有輸出和輸入，所述輸出與具有反饋環(huán)構(gòu)造的模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的模擬輸入耦合，所述輸入與所述ADC的數(shù)字輸出耦合；以及

基于所述固定頻率方波和所述ADC的數(shù)字輸出來測量反饋數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試中的元件的開關(guān)失配誤差。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

將所述ADC的模擬輸入與地短接。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述開關(guān)失配誤差的測量包括累加所述ADC的數(shù)字輸出的樣本。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中：

所述開關(guān)失配誤差的測量包括將所述ADC的數(shù)字輸出的樣本之和除以躍遷數(shù)量；以及

所述躍遷數(shù)量是所述固定頻率方波的頻率乘以所述固定頻率方波應(yīng)用于測試中的元件的輸入的時間段。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

在所述固定頻率方波信號應(yīng)用于測試中的元件的輸入的同時，所述ADC的數(shù)字輸出應(yīng)用于所述反饋DAC的其它元件。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

強制所述反饋DAC的一個或多個其它元件輸出值，其中由所述反饋DAC的一個或多個其它元件輸出的所述值被選為使得當正在測量所述開關(guān)失配誤差時測試中的元件不切換。

7.一種用于測量開關(guān)失配的電路，包括：

測量塊，當固定頻率方波正在驅(qū)動反饋數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC中的元件的輸入時，所述測量塊累加具有反饋DAC的模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的數(shù)字輸出的樣本；以及

除法塊，其基于累加的數(shù)字輸出的樣本和通過所述固定頻率方波引入測試中的元件的輸入的躍遷的數(shù)量來確定開關(guān)失配誤差。

8.如權(quán)利要求7所述的電路，其中：

所述躍遷的數(shù)量是所述固定頻率方波的頻率乘以所述固定頻率方波應(yīng)用于所述測試中的元件的輸入的時間段。

9.如權(quán)利要求7所述的電路，還包括：

緩沖器，其用于存儲當偽隨機抖動信號應(yīng)用于測試中的元件的輸入時所采集的ADC的數(shù)字輸出的樣本。

10.如權(quán)利要求7所述的電路，還包括：

選擇電路，其用于將所述固定頻率方波信號或所述ADC的數(shù)字輸出的對應(yīng)部分應(yīng)用于測試中的元件的輸入。

11.如權(quán)利要求7所述的電路，還包括：

開關(guān)，其用于將所述ADC的模擬輸入與地短接。

12.如權(quán)利要求7所述的電路，還包括：

方波發(fā)生器，其用于生成所述固定頻率方波。

13.如權(quán)利要求7所述的電路，其中：

所述固定頻率方波具有所述反饋DAC的采樣頻率除以四的頻率。

14.如權(quán)利要求7所述的電路，其中：

所述反饋DAC包括被強制輸出值的一個或多個DAC元件，其中由所述一個或多個DAC元件輸出的所述值被選為使得當正在測量所述開關(guān)失配誤差時測試中的元件不切換。

15.一種具有用于反饋模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的模數(shù)轉(zhuǎn)換和開關(guān)失配誤差估計的裝置，包括：

量化器，其用于將模擬輸入數(shù)字化且生成數(shù)字輸出；

反饋數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC，其接受所述數(shù)字輸出作為輸入且提供反饋信號到所述模擬輸入；

用于在所述反饋DAC的DAC元件的其余部分接收數(shù)字輸出的同時將固定頻率方波信號應(yīng)用于所述反饋DAC的測試中的DAC元件的器件；

用于測量所述數(shù)字輸出的器件；以及

用于根據(jù)所述固定頻率方波信號和所述數(shù)字輸出來確定開關(guān)失配誤差的器件。