[發明專利]一種電調衰減器特性曲線測試系統及測試方法

有效

• 申請號: 201611152133.6
• 申請日: 2016-12-14
• 公開（公告）號: CN106771737B
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發明（設計）人: 高忠陽
• 申請（專利權）人: 北京航天微電科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 楊立

本發明涉及一種電調衰減器特性曲線測試系統及測試方法，所述測試系統包括測試夾具和計算機，測試夾具包括夾具槽位、檢波器和單片機，檢波器安裝于夾具槽位輸出端，單片機與所述檢波器以及計算機連接；在夾具槽位中不插接電調衰減器的情況下，外部信號源向夾具槽位輸入功率衰減信號，生成輸入信號?輸出電壓的夾具特性曲線；在夾具槽位中插接電調衰減器的情況下，單片機為夾具槽位中的電調衰減器提供控制電壓，生成輸入控制電壓?輸出電壓的特性曲線；將兩組曲線進行融合替換，獲取輸入控制電壓和輸入信號衰減特性的曲線。本發明提供的測試系統結構簡單，使用方便，測試流程簡單，使用成本比較低，能夠實現對電調衰減器特性曲線的自動化測試。

技術領域

本發明涉及電子測試技術領域，具體涉及一種電調衰減器特性曲線測試系統及測試方法。

背景技術

電調衰減器在射頻組件、電子模塊中有較大量的應用，但由于材料、加工工藝等的問題，使得該產品的一致性較差，在使用前需進行特性曲線測試、篩選，以達到不同應用場合的使用要求。目前一般對電調衰減器特性曲線測試時采用時網分析儀的方法，需要購買時網分析儀這種專用的設備，時網分析儀成本比較昂貴。

發明內容

本發明提供了一種電調衰減器特性曲線測試系統及測試方法，實現了對電調衰減器特性曲線的自動化測試。

本發明解決上述技術問題的技術方案如下：一種電調衰減器特性曲線測試系統，包括測試夾具和計算機，所述測試夾具包括夾具槽位、檢波器和單片機，所述檢波器安裝于夾具槽位輸出端，所述單片機與所述檢波器以及計算機連接；

在夾具槽位中不插接電調衰減器的情況下，外部信號源向夾具槽位輸入以第一預定步進量逐漸衰減的功率衰減信號，單片機獲取檢波器檢測的夾具槽位的輸出電壓，并傳輸給計算機，以供計算機生成輸入功率衰減信號-輸出電壓的夾具特性曲線；

在夾具槽位中插接電調衰減器的情況下，通過計算機控制單片機為夾具槽位中的電調衰減器提供以第二預定步進量逐漸升高的控制電壓，單片機獲取檢波器檢測的夾具槽位的輸出電壓，并傳輸給計算機，以供計算機生成輸入控制電壓-輸出電壓的特性曲線；

將兩組曲線中的輸出電壓進行代換，獲取輸入控制電壓和輸入功率衰減信號的特性曲線。

本發明的有益效果為：在夾具槽位中不插接電調衰減器時，測量繪制一條輸入功率衰減信號-輸出電壓的夾具特性曲線，在夾具槽位中插接電調衰減器時，測量繪制一條輸入控制電壓-輸出電壓的特性曲線，然后根據兩條曲線進行融合替換，繪制出電調衰減器的輸入功率衰減信號和輸出電壓之間的特性曲線，本申請提供的測試系統結構簡單，使用方便，測試流程簡單，無需使用時網分析儀這種昂貴的專用設備，能夠實現對電調衰減器特性曲線的自動化測試，對電調衰減器的特性曲線的測試成本低。

在上述技術方案的基礎上，本發明還可以作如下改進。

進一步的，外部信號源向夾具槽位輸入的功率衰減信號的范圍為0dBm至-30dBm，以1dBm為步進量逐漸衰減。

進一步的，所述計算機控制單片機向夾具槽位輸入的控制電壓的范圍為0V至4V，以0.1V為步進量逐漸升高。

進一步的，所述測試夾具還包括A/D轉換器和D/A轉換器，所述A/D轉換器連接與檢波器與單片機之間，所述D/A轉換器連接在單片機與夾具槽位之間；

所述A/D轉換器，用于將檢波器檢測的夾具槽位的模擬輸出電壓轉換為數字輸出電壓，并傳輸至單片機；

所述D/A轉換器，用于將計算機控制單片機提供的數字控制電壓轉換為模擬控制電壓，并輸入至夾具槽位。

進一步的，所述計算機還將最終獲取的輸入控制電壓和輸入信號衰減特性的曲線生成.S1P文件或.S1P文件，供外部平臺調用。