[發明專利]一種電調衰減器特性曲線測試系統及測試方法

有效

• 申請號: 201611152133.6
• 申請日: 2016-12-14
• 公開（公告）號: CN106771737B
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發明（設計）人: 高忠陽
• 申請（專利權）人: 北京航天微電科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 楊立

1.一種電調衰減器特性曲線測試系統，其特征在于，包括測試夾具和計算機，所述測試夾具包括夾具槽位、檢波器和單片機，所述檢波器安裝于夾具槽位輸出端，所述單片機與所述檢波器以及計算機連接；

在夾具槽位中不插接電調衰減器的情況下，外部信號源向夾具槽位輸入以第一預定步進量逐漸衰減的功率衰減信號，單片機獲取檢波器檢測的夾具槽位的輸出電壓，并傳輸給計算機，以供計算機生成輸入功率衰減信號-輸出電壓的夾具特性曲線；

在夾具槽位中插接電調衰減器的情況下，通過計算機控制單片機為夾具槽位中的電調衰減器提供以第二預定步進量逐漸升高的控制電壓，單片機獲取檢波器檢測的夾具槽位的輸出電壓，并傳輸給計算機，以供計算機生成輸入控制電壓-輸出電壓的特性曲線；

將兩組曲線中的輸出電壓進行替換，獲取輸入控制電壓和輸入功率衰減信號的特性曲線。

2.如權利要求1所述的電調衰減器特性曲線測試系統，其特征在于，外部信號源向夾具槽位輸入的功率衰減信號的范圍為0dBm至-30dBm，以1dBm為步進量逐漸衰減。

3.如權利要求1所述的電調衰減器特性曲線測試系統，其特征在于，所述計算機控制單片機向夾具槽位輸入的控制電壓的范圍為0V至4V，以0.1V為步進量逐漸升高。

4.如權利要求3所述的電調衰減器特性曲線測試系統，其特征在于，所述測試夾具還包括A/D轉換器和D/A轉換器，所述A/D轉換器連接于檢波器與單片機之間，所述D/A轉換器連接在單片機與夾具槽位之間；

所述A/D轉換器，用于將檢波器檢測的夾具槽位的模擬輸出電壓轉換為數字輸出電壓，并傳輸至單片機；

所述D/A轉換器，用于將計算機控制單片機提供的數字控制電壓轉換為模擬控制電壓，并輸入至夾具槽位。

5.如權利要求4所述的電調衰減器特性曲線測試系統，其特征在于，所述計算機還將最終獲取的輸入控制電壓和輸入功率衰減信號的特性曲線生成.S1P文件或者.S2P文件，供外部平臺調用。

6.一種采用權利要求1-5任一項所述的電調衰減器特性曲線測試系統進行電調衰減器特性曲線的測試方法，其特征在于，包括：

S1，在夾具槽位中不插接電調衰減器的情況下，外部信號源向夾具槽位輸入以第一預定步進量逐漸衰減的功率衰減信號，單片機獲取檢波器檢測的夾具槽位的輸出電壓，并傳輸給計算機，以供計算機生成輸入功率衰減信號-輸出電壓的夾具特性曲線；

S2，在夾具槽位中插接電調衰減器的情況下，通過計算機控制單片機為夾具槽位中的電調衰減器提供以第二預定步進量逐漸升高的控制電壓，單片機獲取檢波器檢測的夾具槽位的輸出電壓，并傳輸給計算機，以供計算機生成輸入控制電壓-輸出電壓的特性曲線；

S3，將兩組曲線中的輸出電壓進行替換，獲取輸入控制電壓和輸入功率衰減信號的特性曲線。

7.如權利要求6所述的采用電調衰減器特性曲線測試系統進行電調衰減器特性曲線的測試方法，其特征在于，外部信號源向夾具槽位輸入的功率衰減信號的范圍為0dBm至-30dBm，以1dBm為步進量逐漸衰減。

8.如權利要求6所述的采用電調衰減器特性曲線測試系統進行電調衰減器特性曲線的測試方法，其特征在于，所述計算機控制單片機向夾具槽位輸入的控制電壓的范圍為0V至4V，以0.1V為步進量逐漸升高。

9.如權利要求8所述的采用電調衰減器特性曲線測試系統進行電調衰減器特性曲線的測試方法，其特征在于，

所述檢波器檢測的夾具槽位的輸出電壓為模擬輸出電壓，將所述模擬輸出電壓轉換為數字輸出電壓后傳輸至單片機；

以及計算機控制單片機向夾具槽位提供的控制電壓為數字控制電壓，將單片機提供的該數字控制電壓轉換為模擬控制電壓后輸入夾具槽位。

10.如權利要求9所述的采用電調衰減器特性曲線測試系統進行電調衰減器特性曲線的測試方法，其特征在于，還包括：

計算機將最終獲取的輸入控制電壓和輸入功率衰減信號的特性曲線生成.S1P文件或者.S2P文件，供外部平臺調用。