[發明專利]圖像的缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 201611143938.4
• 申請日: 2016-12-13
• 公開（公告）號: CN106815830B
• 公開（公告）日: 2020-01-03
• 發明（設計）人: 宮新一;徐德;張正濤;沈飛;蘇虎;楊化彬;袁智超
• 申請（專利權）人: 中國科學院自動化研究所;中國科學院自動化研究所(洛陽)機器人與智能裝備創新研究院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06K9/62
• 代理公司: 11482 北京瀚仁知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 宋寶庫;李飛

本發明涉及一種圖像的缺陷檢測方法，包括以下步驟：掃描待檢測圖像，獲取所述待檢測圖像中的待測圖案的邊緣輪廓；在所述邊緣輪廓中選取搜索點，并將所述搜索點投影到與所述待測圖案相同的模板圖像中得到瑕疵點，構成瑕疵點聚類；計算所述瑕疵點聚類中每一瑕疵點對應的瑕疵尺寸信息。本發明中，實現了在降低成本情況下，對圖像的缺陷精確檢測。

技術領域

本發明屬于圖像模式識別領域，尤其涉及一種圖像的缺陷檢測方法。

背景技術

如今智能手機已被廣泛使用，手機蓋板是智能手機設備重要的組件。在手機蓋板檢測的過程中，目前多數檢測依靠人工肉眼識別。依靠人工肉眼識別的方式不僅耗費時間、對人的視力造成影響，還會因為不同人檢測指標不同而造成漏檢或者過檢。

目前市場上的Logo區域缺陷檢測設備尚未成熟，部分Logo缺陷檢測設備只能對Logo區域較大的缺陷進行檢測。不能夠精確的計算缺陷的尺寸和位置。另一種Logo區域檢測設備因為算法和機械原因算法處理時間較長而且成本極其昂貴。

發明內容

為了解決現有技術中的上述問題，即為了解決如何在降低成本情況下，實現對圖像的缺陷精確檢測問題，本發明提供了一種圖像的缺陷檢測方法，所述方法包括以下步驟：

掃描待檢測圖像，獲取所述待檢測圖像中的待測圖案的邊緣輪廓；

在所述邊緣輪廓中選取搜索點，并將所述搜索點投影到與所述待測圖案相同的模板圖像中得到瑕疵點，構成瑕疵點聚類；

計算所述瑕疵點聚類中每一瑕疵點對應的瑕疵尺寸信息。

優選地，所述獲取所述待檢測圖像中的待測圖案的邊緣輪廓，具體包括：以所述待檢測圖像原點為起始點，

步驟A，沿y軸方向向下搜索直到搜索高度為待檢測圖像高度，獲取搜索到的搜索點；

步驟B，對所述起始點在x軸方向加數值1，重復上述步驟A；直到所述起始點在x軸方向上的數值等于所述待檢測圖像的寬度；

步驟C，統計所有搜索點記為第一搜索點集合；

步驟A’，沿x軸方向向右搜索直到搜索長度為待檢測圖像高度，獲取搜索到的搜索點；

步驟B’，對所述起始點在y軸方向加數值1，重復上述步驟A；直到所述起始點在y軸方向上的數值等于所述待檢測圖像的寬度；

步驟C’，統計所有搜索點記為第二搜索點集合；

將所述第一搜索點集合和第二搜索點集合中的所有搜索點合并，刪除兩者共有的搜索點，得到新的搜索點集合，根據該新的搜索點集合中的各搜索點構成所述待檢測圖像中的待測圖案的邊緣輪廓；其中，所述搜索點為搜索到的灰度值跳變點。

優選地，所述將所述搜索點投影到與所述待測圖案相同的模板圖像中得到瑕疵點，具體包括：

將所述待測圖案與所述模板圖像中的模板圖案進行匹配；

根據匹配結果計算所述搜索點與模板圖案中對應搜索點間的距離，記為偏移量；

當所述偏移量與平均偏移量的差值大于預設偏移量閾值時，確定所述搜索點為瑕疵點；

所述平均偏移量為，所述待測圖案中所有搜索點的偏移量總和的平均值。

優選地，所述將所述待測圖案與所述模板圖像中的模板圖案進行匹配，具體包括：

在所述待測圖案中所構成的新的搜索點集合中選取搜索點P₁，并在所述模板圖像中選取所述P₁的對應點P₂，根據所選取的P₁和₂計算旋轉偏移量Δθ、平移偏移量R和沿Y軸拉伸量K；