[發(fā)明專利]圖像的缺陷檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611143938.4
• 申請日: 2016-12-13
• 公開（公告）號: CN106815830B
• 公開（公告）日: 2020-01-03
• 發(fā)明（設計）人: 宮新一;徐德;張正濤;沈飛;蘇虎;楊化彬;袁智超
• 申請（專利權）人: 中國科學院自動化研究所;中國科學院自動化研究所(洛陽)機器人與智能裝備創(chuàng)新研究院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06K9/62
• 代理公司: 11482 北京瀚仁知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 宋寶庫;李飛

1.一種圖像的缺陷檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

掃描待檢測圖像，獲取所述待檢測圖像中的待測圖案的邊緣輪廓；

在所述邊緣輪廓中選取搜索點，并將所述搜索點投影到與所述待測圖案相同的模板圖像中得到瑕疵點，構成瑕疵點聚類；

計算所述瑕疵點聚類中每一瑕疵點對應的瑕疵尺寸信息；

其中，所述獲取所述待檢測圖像中的待測圖案的邊緣輪廓，具體包括：

以所述待檢測圖像原點為起始點，

步驟A，沿y軸方向向下搜索直到搜索高度為待檢測圖像高度，獲取搜索到的搜索點；

步驟B，對所述起始點在x軸方向加數(shù)值1，重復上述步驟A；直到所述起始點在x軸方向上的數(shù)值等于所述待檢測圖像的寬度；

步驟C，統(tǒng)計所有搜索點記為第一搜索點集合；

步驟A’，沿x軸方向向右搜索直到搜索長度為待檢測圖像高度，獲取搜索到的搜索點；

步驟B’，對所述起始點在y軸方向加數(shù)值1，重復上述步驟A’；直到所述起始點在y軸方向上的數(shù)值等于所述待檢測圖像的寬度；

步驟C’，統(tǒng)計所有搜索點記為第二搜索點集合；

將所述第一搜索點集合和第二搜索點集合中的所有搜索點合并，刪除兩者共有的搜索點，得到新的搜索點集合，根據(jù)該新的搜索點集合中的各搜索點構成所述待檢測圖像中的待測圖案的邊緣輪廓；其中，所述搜索點為搜索到的灰度值跳變點。

2.根據(jù)權利要求1所述的圖像的缺陷檢測方法，其特征在于，所述將所述搜索點投影到與所述待測圖案相同的模板圖像中得到瑕疵點，具體包括：

將所述待測圖案與所述模板圖像中的模板圖案進行匹配；

根據(jù)匹配結果計算所述搜索點與模板圖案中對應搜索點間的距離，記為偏移量；

當所述偏移量與平均偏移量的差值大于預設偏移量閾值時，確定所述搜索點為瑕疵點；

所述平均偏移量為所述待測圖案中所有搜索點的偏移量總和的平均值。

3.根據(jù)權利要求2所述的圖像的缺陷檢測方法，其特征在于，所述將所述待測圖案與所述模板圖像中的模板圖案進行匹配，具體包括：

在所述待測圖案中所構成的新的搜索點集合中選取搜索點P₁，并在所述模板圖像中選取所述P₁的對應點P₂，根據(jù)所選取的P₁和P₂計算旋轉偏移量Δθ、平移偏移量R和沿Y軸拉伸量K；

根據(jù)旋轉偏移量Δθ、平移偏移量R和沿Y軸拉伸量K將所述搜索點投影到與所述待測圖案相同的模板圖像中，得到匹配結果；

具體的，根據(jù)P₁和P₂計算長度D和與水平方向夾角θ；

在所述待測圖案和模板圖像中選取三組對應點P₁₁、P₂₁、P₁₂、P₂₂、P₁₃和P₂₃，則平移偏移量R為：

R_y＝P_11y-P_21y

R_x＝P_11x-P_21x

沿Y軸拉伸量K為：

其中，l₁為P₁₁和P₁₂兩點距離，l₂為P₁₃、P₂₃兩點距離；

則所述Δθ為：

其中，