[發(fā)明專利]一種超聲顯微鏡無損檢測(cè)性能的綜合校準(zhǔn)試塊有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611139550.7 | 申請(qǐng)日： | 2016-12-12 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN106501378B | 公開（公告）日： | 2019-04-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 徐春廣;朱延玲;肖定國;張正;張佳祺;翟樹朋;郭燦志;李培祿 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 北京理工大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01N29/30 | 分類號(hào)： | G01N29/30 |
| 代理公司： | 北京理工大學(xué)專利中心 11120 | 代理人： | 李愛英;郭德忠 |
| 地址： | 100081 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 超聲 顯微鏡 無損 檢測(cè) 性能 綜合 校準(zhǔn) | ||
【說明書】：
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- 一種基于云計(jì)算的無損檢測(cè)系統(tǒng)
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- 能量無損編碼方法和設(shè)備以及能量無損解碼方法和設(shè)備
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
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- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
