[發明專利]一種超聲顯微鏡無損檢測性能的綜合校準試塊有效
| 申請號： | 201611139550.7 | 申請日： | 2016-12-12 |
| 公開（公告）號： | CN106501378B | 公開（公告）日： | 2019-04-05 |
| 發明（設計）人： | 徐春廣;朱延玲;肖定國;張正;張佳祺;翟樹朋;郭燦志;李培祿 | 申請（專利權）人： | 北京理工大學 |
| 主分類號： | G01N29/30 | 分類號： | G01N29/30 |
| 代理公司： | 北京理工大學專利中心 11120 | 代理人： | 李愛英;郭德忠 |
| 地址： | 100081 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 超聲 顯微鏡 無損 檢測 性能 綜合 校準 | ||
【權利要求書】：
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