[發明專利]NANDflash存儲設備的測試系統

在審

• 申請號: 201611130015.5
• 申請日: 2016-12-09
• 公開（公告）號: CN108614755A
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發明（設計）人: 陳誠
• 申請（專利權）人: 北京京存技術有限公司
• 主分類號: G06F11/263
• 分類號: G06F11/263
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆;胡彬

本發明實施例公開了一種NAND flash存儲設備的測試系統。所述NAND flash存儲設備的測試系統包括上位機、測試板和待測存儲設備，其中，所述上位機通過串口與所述測試板連接，所述測試板還通過特定接口與待測存儲設備連接。本發明實施例通過將符合預設要求的測試命令保存到測試文件中，使待檢測存儲設備重現同樣問題時，可以直接調用已有的測試命令快速實現。不僅實現了自動化測試，而且為問題重現提供了可能。

技術領域

本發明實施例涉及存儲器測試技術，尤其涉及一種NAND flash存儲設備的測試系統。

背景技術

NAND Flash是Flash內存的一種，屬于非易失性存儲設備。

基于NAND flash的存儲設備的性能需要通過測試得出，在設備研發過程中，為了定位問題，也需要通過測試測出問題并重現問題來定位錯誤。因此，存儲設備的自動化測試和問題重現對于產品的調試具有重要的意義。

發明內容

本發明實施例提供一種NAND flash存儲設備的測試系統，以對存儲設備實現自動化測試和問題重現。

第一方面，本發明實施例提供了一種NAND flash存儲設備的測試系統，包括上位機、測試板和待測存儲設備，其中，

所述上位機通過串口與所述測試板連接，所述測試板還通過特定接口與待測存儲設備連接；

所述上位機用于根據輸入的命令格式生成測試命令，將所述測試命令下發至所述測試板，以及將所述測試命令保存到測試文件中，其中，所述測試文件用于被調用并執行其中的測試命令，以便通過再次測試來復現問題；

所述測試板用于解析所述測試命令，將所述測試命令轉換為符合待測存儲設備協議的前端命令，將所述前端命令發送至待測存儲設備執行；

待測存儲設備用于執行所述前端命令，并將執行結果通過所述測試板反饋至所述上位機。

本發明實施例通過將符合預設要求的測試命令保存到測試文件中，使待檢測存儲設備重現同樣問題時，可以直接調用已有的測試命令快速實現。不僅實現了自動化測試，而且為問題重現提供了可能。。

附圖說明

圖1是本發明實施例一中的一種NAND flash存儲設備的測試系統的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發明作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本發明，而非對本發明的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本發明相關的部分而非全部結構。

實施例一

圖1為本發明實施例一提供的一種NAND flash存儲設備的測試系統的結構示意圖，該NAND flash存儲設備的測試系統應用于存儲設備產品的調試操作。

如圖1所示，所述NAND flash存儲設備的測試系統具體包括：上位機110、測試板120和待測存儲設備130。

上位機110通過串口與測試板120連接，測試板120還通過特定接口與待測存儲設備130連接；

所述上位機包括可以直接發出操控命令的計算機。所述測試板可以是印制電路板(PCB)，所述測試板集成了現場可編程邏輯門陣列(FPGA)。

所述串口即串行通信接口，是采用串行通信方式的擴展接口，在本實施例中用于上位機110和測試板120間的信息傳送。待測存儲設備130可以是Nand flash存儲設備。

所述特定接口根據不同的待測存儲設備130進行選擇，可以是存儲設備的用戶端接口。