[發(fā)明專利]NANDflash存儲設(shè)備的測試系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611130015.5
• 申請日: 2016-12-09
• 公開（公告）號: CN108614755A
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳誠
• 申請（專利權(quán)）人: 北京京存技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06F11/263
• 分類號: G06F11/263
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆;胡彬

1.一種NAND flash存儲設(shè)備的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括上位機(jī)、測試板和待測存儲設(shè)備，其中，

所述上位機(jī)通過串口與所述測試板連接，所述測試板還通過特定接口與待測存儲設(shè)備連接；

所述上位機(jī)用于根據(jù)輸入的命令格式生成測試命令，將所述測試命令下發(fā)至所述測試板，以及將所述測試命令保存到測試文件中，其中，所述測試文件用于被調(diào)用并執(zhí)行其中的測試命令，以便通過再次測試來復(fù)現(xiàn)問題；

所述測試板用于解析所述測試命令，將所述測試命令轉(zhuǎn)換為符合待測存儲設(shè)備協(xié)議的前端命令，將所述前端命令發(fā)送至待測存儲設(shè)備執(zhí)行；

待測存儲設(shè)備用于執(zhí)行所述前端命令，并將執(zhí)行結(jié)果通過所述測試板反饋至所述上位機(jī)。