[發明專利]一種小型化高精度星敏感器用光學系統有效
| 申請號: | 201611124355.7 | 申請日: | 2016-12-08 | 
| 公開(公告)號: | CN106772936B | 公開(公告)日: | 2019-06-18 | 
| 發明(設計)人: | 梁士通;梅志武;鄭然;趙曉雨;李松;王婧曄;武宏宇;李玉明;隋杰;張運方;孫慧麗;曹哲 | 申請(專利權)人: | 北京控制工程研究所 | 
| 主分類號: | G02B13/00 | 分類號: | G02B13/00;G02B27/00;G01C25/00 | 
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 陳鵬 | 
| 地址: | 100080 *** | 國省代碼: | 北京;11 | 
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 | 
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 小型化 高精度 敏感 器用 光學系統 | ||
本發明為一種小型化高精度星敏感器用光學系統,本發明的光學系統采用了準高斯透鏡結構,共由6片透鏡組成,全部采用球面透鏡,第一透鏡玻璃采用熔石英材料,使其即可用于校正像差,也可充當光學系統的保護玻璃。本發明光學系統具有寬光譜、大視場、大相對孔徑等特點;在較大的光譜范圍和視場內具有很小的畸變量,各視場彌散斑能量集中度分布均勻,成像質量良好。系統可以工作于?50℃到+70℃,可以在各溫度點具有良好的像質和離焦量,可以滿足工作于空間惡劣溫度環境下的高精度星敏感器的姿態測量需求。
技術領域
本發明涉及一種星敏感器用光學系統,屬于光學工程范疇。
背景技術
星敏感器以恒星為測量目標,通過光學系統將恒星成像于光電轉換器上,輸出信號經過A/D轉換送數據處理單元,經星點提取和星圖識別,確定星敏感器光軸矢量在慣性坐標系下的指向,通過星敏感器在飛行器、星光導航系統及艦船的上的安裝矩陣,確定其在慣性坐標系下的三軸姿態。
星敏感器一般由遮光罩、光學系統、探測器組件及其電路、數據處理電路、二次電源、軟件(系統軟件、應用軟件及星表)、主體結構和基準鏡等組成。
星敏感器光學系統對星敏感器的整機性能,特別是精度等核心性能有著重要影響,光學系統性能的降低將帶來整機精度、靈敏度等核心指標的降低,因此光學系統是星敏感器的關鍵部件之一。相比較于常用的照相物鏡,星敏感器用光學系統的觀測目標是恒星目標,恒星目標一般具有寬光譜、低照度的特點;同時為了提高整機對恒星像點的定位精度,光學系統需將恒星目標在光電探測器上,恒星像點應接近高斯分布。
由于星敏感器用于空間環境,因此光學系統在滿足成像性能的同時,需具有較好的抗力學性能,耐高溫差能力和抗宇宙輻射能力等。這些要求使得星敏感器光學系統在材料選擇、結構設計等方面有較大限制。
根據星敏感器整機和恒星目標的特點,星敏感器光學系統設計難度較大,對結構設計、系統裝調等要求很高,星敏感器光學系統的相關設計及裝調技術是星敏感器的核心技術之一。
星敏感器光學系統一般使用復雜化的光學系統、甚至非球面光學系統保證光學系統具有良好的成像性能。光學系統復雜化后一般體積重量較大。光學系統體積重量變大后,使得星敏感器需進行結構加固設計才能滿足光學系統的穩定性等要求,導致星敏感器產品的整機體積和重量較大,不利星敏感器整機的輕量化。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是:克服現有技術的不足,提供一種小型化高精度星敏感器用光學系統,具有寬光譜、大視場、大相對孔徑特點,滿足了工作于空間惡劣溫度環境下的高精度星敏感器的姿態測量需求。
本發明所采用的技術方案是:一種小型化高精度星敏感器用光學系統,包括依次排列的第一透鏡、第二透鏡、孔徑光闌、第三透鏡、第四透鏡、第五透鏡、第六透鏡、探測器保護玻璃和光電探測器;入射光線從第一透鏡入射,第一透鏡為正透鏡,收集目標的發射光線,并將目標發出的光能量匯聚后入射至第二透鏡上;第二透鏡為正透鏡,用于校正第一透鏡產生的球差;第三透鏡對第二透鏡發出的光能量進行像差校正后發送給第四透鏡;第四透鏡、第五透鏡和第六透鏡對光學系統焦距進行修正,并對第一透鏡、第二透鏡和第三透鏡的像差進行校正;光電探測器對接收的光能量進行探測;第四透鏡、第五透鏡均為正透鏡,第三透鏡、第六透鏡均為負透鏡。
所述光學系統焦距為37.6mm,入瞳直徑為34mm,F數為1.1,全視場角為17°;第一透鏡頂點距光電探測器的總長度為62.7mm,光學系統焦距與長度的比例為1:2。
所述第一透鏡前表面曲率半徑57.94mm,后表面曲率半徑-192.31mm,透鏡中心厚度5mm,外輪廓直徑38mm,材料為熔石英材料;
第二透鏡前表面曲率半徑31.05mm,后表面曲率半徑81.41mm,透鏡中心厚度6mm,外輪廓直徑35mm,玻璃牌號為ZK9;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京控制工程研究所,未經北京控制工程研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611124355.7/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





