[發明專利]一種基于平行成像的光學精細測量的方法在審
| 申請號： | 201611115337.2 | 申請日： | 2016-12-07 |
| 公開（公告）號： | CN106441159A | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發明（設計）人： | 劉哲;于濤;黃世奇;姜杰 | 申請（專利權）人： | 西京學院 |
| 主分類號： | G01B11/24 | 分類號： | G01B11/24;G02B27/00 |
| 代理公司： | 西安西達專利代理有限責任公司61202 | 代理人： | 高亦哲 |
| 地址： | 710199 陜西*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 平行 成像 光學 精細 測量 方法 | ||
【說明書】：
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