[發(fā)明專利]一種基于平行成像的光學(xué)精細(xì)測(cè)量的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611115337.2 | 申請(qǐng)日： | 2016-12-07 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN106441159A | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 劉哲;于濤;黃世奇;姜杰 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 西京學(xué)院 |
| 主分類號(hào)： | G01B11/24 | 分類號(hào)： | G01B11/24;G02B27/00 |
| 代理公司： | 西安西達(dá)專利代理有限責(zé)任公司61202 | 代理人： | 高亦哲 |
| 地址： | 710199 陜西*** | 國(guó)省代碼： | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基于 平行 成像 光學(xué) 精細(xì) 測(cè)量 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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