[發(fā)明專利]一種尋找覆蓋區(qū)矽卡巖型鐵銅金礦的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611110474.7
• 申請日: 2016-12-06
• 公開（公告）號: CN106772677A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 汪青松;崔先文;張凱;王芝水;產(chǎn)思維
• 申請（專利權(quán)）人: 安徽省勘查技術(shù)院
• 主分類號: G01V11/00
• 分類號: G01V11/00
• 代理公司: 安徽匯樸律師事務(wù)所34116
• 代理人: 李啟勝

1.一種尋找覆蓋區(qū)矽卡巖型鐵銅金礦的方法，其特征在于步驟如下：

步驟一、分析成礦地質(zhì)條件編制勘查區(qū)成礦建造構(gòu)造圖；

步驟二、根據(jù)成礦建造構(gòu)造圖，確定找礦靶區(qū)；

找礦靶區(qū)選擇條件包括：①處于巖體與碳酸鹽巖地層內(nèi)外接觸帶；

②巖體為燕山期中酸性閃長巖、酸性閃長玢巖、石英二長閃長巖、石英二長閃長玢巖、花崗閃長巖、花崗閃長斑巖和二長花崗巖中的一種或多種；

③地層為古生界寒武系中上統(tǒng)富鎂碳酸鹽巖或大理巖和奧陶系下統(tǒng)鈣鎂碳酸巖地層；

④大地構(gòu)造位置為華北地臺。

步驟三、在找礦靶區(qū)開展CSAMT法剖面測量，判斷礦化大理巖捕虜體位置；

步驟四、在礦化大理巖捕虜體位置鉆探驗證礦藏。

2.如權(quán)利要求1所述一種尋找覆蓋區(qū)矽卡巖型鐵銅金礦的方法，其特征在于：所述步驟三中判斷礦化大理巖捕虜體位置的具體方法如下：①繪制找礦靶區(qū)CSAMT電阻率斷面圖；②在CSAMT電阻率斷面圖中篩選高阻蘑菇狀異常區(qū)域或高阻孤島狀異常區(qū)域；③在高阻蘑菇狀異常區(qū)域或高阻孤島狀異常區(qū)域周圍出現(xiàn)伴生低阻異常區(qū)域，判斷該低阻異常區(qū)域為礦化大理巖捕虜體所在區(qū)域。

3.如權(quán)利要求2所述一種尋找覆蓋區(qū)矽卡巖型鐵銅金礦的方法，其特征在于：所述低阻異常區(qū)域緊靠高阻蘑菇狀異常區(qū)域或高阻孤島狀異常區(qū)域，所述低阻異常區(qū)域的電阻率比圍巖的電阻率小1000歐姆·米以上。

4.如權(quán)利要求2所述一種尋找覆蓋區(qū)矽卡巖型鐵銅金礦的方法，其特征在于：所述高阻蘑菇狀異常區(qū)域的蘑菇傘蓋直徑為500-1500米，傘蓋頂部到蘑菇根部深度為500-1000米，蘑菇頂部埋深100-300米，蘑菇根部部位電阻率與圍巖電阻率差值為500-1000歐姆·米，其核部電阻率高，電阻率值與圍巖電阻率值相當(dāng)。

5.如權(quán)利要求2所述一種尋找覆蓋區(qū)矽卡巖型鐵銅金礦的方法，其特征在于：所述高阻孤島狀異常呈橢圓形，其長軸長度為200-500米，短軸長度約為100-400米，其核部電阻率為1000-3000歐姆·米。

6.如權(quán)利要求1所述一種尋找覆蓋區(qū)矽卡巖型鐵銅金礦的方法，其特征在于，勘查區(qū)成礦建造構(gòu)造圖按照以下方法編制：收集勘查區(qū)以往地質(zhì)礦產(chǎn)和物探資料，編制基巖地質(zhì)礦產(chǎn)草圖；在勘查區(qū)開展1/5萬高精度重力測量和1/2.5萬高精度磁法測量，進行隱伏巖體和地層構(gòu)造推斷解釋；結(jié)合區(qū)域地質(zhì)構(gòu)造特征，編制基巖地質(zhì)礦產(chǎn)圖；根據(jù)基巖地質(zhì)礦產(chǎn)圖結(jié)合區(qū)域成礦規(guī)律，分析成礦地質(zhì)條件，編制成礦建造構(gòu)造圖。