[發(fā)明專利]一種非接觸智能卡測試裝置及測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611100535.1
• 申請日: 2016-12-02
• 公開（公告）號: CN106646039B
• 公開（公告）日: 2019-11-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王豐;劉麗麗
• 申請（專利權(quán)）人: 北京中電華大電子設(shè)計有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明涉及測試驗(yàn)證領(lǐng)域，針對實(shí)際應(yīng)用中非接觸智能卡與非接觸讀卡器通信過程中，易受到外界噪聲干擾導(dǎo)致智能卡接收數(shù)據(jù)異常、通信失敗的現(xiàn)象，提出了一種非接觸智能卡測試裝置及測試方法，該非接觸智能卡測試裝置包括：嵌入式處理器，讀卡器模塊，噪聲生成模塊，測試方法包括在讀卡器發(fā)送正確數(shù)據(jù)的各個階段加入噪聲干擾，并測試非接觸智能卡的抗干擾能力。在目前對于非接觸智能卡性能要求越來越嚴(yán)苛的背景下，提高了非接觸智能卡性能測試全面性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測試驗(yàn)證領(lǐng)域，提供了一種非接觸智能卡測試裝置及測試方法。

背景技術(shù)

隨著非接觸智能卡應(yīng)用的普及，發(fā)卡量不斷增長，對非接觸智能卡的性能及可靠性要求越來越高，特別是非接觸智能卡與非接觸讀卡器實(shí)際通信過程中，由于非接觸技術(shù)本身的原因，非接觸智能卡易受到外界噪聲干擾導(dǎo)致智能卡不能有效接收讀卡器發(fā)送的數(shù)據(jù)，造成通信失敗。因此，對非接觸智能卡的干擾測試也提出了更高要求。

現(xiàn)有的非接觸智能卡測試讀卡器僅能針對在通信信號的基礎(chǔ)上添加固定干擾進(jìn)行簡單的干擾測試，但實(shí)際的應(yīng)用環(huán)境多樣，噪聲信號的特征也比較復(fù)雜，現(xiàn)有的非接觸智能卡測試讀卡器并不能有效的進(jìn)行非接觸智能卡的干擾測試，達(dá)不到全面性的測試要求。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有的非接觸智能卡測試讀卡器的不足及實(shí)際測試需求，本發(fā)明提出了一種非接觸智能卡測試裝置及測試方法，能夠模擬多種實(shí)際應(yīng)用中的噪聲對非接觸智能卡進(jìn)行干擾測試，提高了測試覆蓋率，避免非接觸智能卡由于測試不足導(dǎo)致的產(chǎn)品質(zhì)量風(fēng)險。

本發(fā)明提出了一種非接觸智能卡測試裝置，包括：嵌入式處理器、噪聲生成模塊和非接觸讀卡器模塊。

嵌入式處理器與噪聲生成模塊連接，用于控制噪聲生成模塊開始產(chǎn)生信號，并用于配置噪聲生成模塊的噪聲信號參數(shù)。

嵌入式處理器與非接觸讀卡器模塊連接，用于配置非接觸讀卡器模塊為正常傳輸模式或噪聲傳輸模式，并用于配置非接觸讀卡器模塊的噪聲傳輸模式參數(shù)，還用于向非接觸讀卡器模塊發(fā)送正常傳輸數(shù)據(jù)，并從非接觸讀卡器模塊獲取被測非接觸智能卡響應(yīng)數(shù)據(jù)。

噪聲生成模塊與非接觸讀卡器模塊連接，用于向非接觸讀卡器模塊發(fā)送噪聲傳輸信號。

噪聲生成模塊可根據(jù)嵌入式處理器配置的噪聲信號參數(shù)生成噪聲信號，噪聲信號參數(shù)包括：脈沖寬度、脈沖個數(shù)、脈沖極性。

非接觸讀卡器模塊可根據(jù)嵌入式處理器配置為正常傳輸模式或噪聲傳輸模式，在正常傳輸模式下，可接收嵌入式處理器發(fā)送的正常傳輸數(shù)據(jù)并調(diào)制后發(fā)送給被測非接觸智能卡，在噪聲傳輸模式下，可根據(jù)嵌入式處理器配置噪聲模式參數(shù)，并根據(jù)噪聲模式參數(shù)對噪聲信號進(jìn)行ASK調(diào)制，并發(fā)送給被測非接觸智能卡，噪聲模式參數(shù)為ASK調(diào)制深度，深度范圍為0～100％。

應(yīng)用非接觸智能卡測試裝置的測試方法為嵌入式處理器配置噪聲生成模塊的噪聲信號參數(shù)后，嵌入式處理器配置非接觸讀卡器模塊為正常傳輸模式，并向非接觸讀卡器模塊發(fā)送正常傳輸數(shù)據(jù)，在非接觸讀卡器模塊把正常數(shù)據(jù)發(fā)送給被測非接觸智能卡的前后，嵌入式處理器配置非接觸讀卡器模塊為噪聲傳輸模式并配置噪聲模式參數(shù)，同時嵌入式處理器控制噪聲生成模塊開始輸出噪聲，該噪聲信號通過非接觸讀卡器模塊調(diào)制后發(fā)送給被測非接觸智能卡，嵌入式處理器通過非接觸讀卡器模塊獲取被測非接觸智能卡返回數(shù)據(jù)，根據(jù)返回數(shù)據(jù)判斷是否通過本次測試。

附圖說明

圖1表示本發(fā)明的特定實(shí)施例結(jié)構(gòu)框圖。

圖2表示本發(fā)明的一種特定實(shí)施例測試流程圖。

圖3表示本發(fā)明的另一種特定實(shí)施例測試流程圖。

圖4表示本發(fā)明的另一種特定實(shí)施例測試流程圖。

具體實(shí)施方式