[發明專利]一種非接觸智能卡測試裝置及測試方法有效
| 申請號： | 201611100535.1 | 申請日： | 2016-12-02 |
| 公開（公告）號： | CN106646039B | 公開（公告）日： | 2019-11-12 |
| 發明（設計）人： | 王豐;劉麗麗 | 申請（專利權）人： | 北京中電華大電子設計有限責任公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平區北七家未*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 非接觸智能卡 測試 測試裝置 智能卡 嵌入式處理器 讀卡器模塊 抗干擾能力 接收數據 通信過程 通信失敗 外界噪聲 性能測試 性能要求 噪聲干擾 噪聲生成 正確數據 讀卡器 全面性 卡器 與非 驗證 發送 應用 | ||
1.一種非接觸智能卡測試裝置(1)，其特征在于，包括：嵌入式處理器(2)、噪聲生成模塊(3)和非接觸讀卡器模塊(4)；其中，嵌入式處理器(2)與噪聲生成模塊(3)相連，噪聲生成模塊(3)與非接觸讀卡器模塊(4)相連，非接觸讀卡器模塊(4)與嵌入式處理器(2)相連；非接觸讀卡器模塊(4)通過嵌入式處理器(2)配置為正常傳輸和噪聲傳輸兩種模式；當非接觸讀卡器模塊(4)通過嵌入式處理器(2)配置為正常傳輸模式時，非接觸讀卡器模塊(4)向被測非接觸智能卡發送正常數據,在發送正常數據后，嵌入式處理器(2)配置非接觸讀卡器模塊(4)為噪聲傳輸模式，并配置噪聲模式參數，同時嵌入式處理器(2)控制噪聲生成 模塊(3)開始輸出噪聲，該噪聲信號通過非接觸讀卡器模塊(4)調制后發送給被測非接觸智能卡。
2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述噪聲生成模塊(3)通過嵌入式處理器(2)配置的噪聲信號參數生成噪聲信號，噪聲信號參數包括：脈沖寬度、脈沖個數、脈沖極性。
3.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述非接觸讀卡器模塊(4)在噪聲傳輸模式配置下，對所述噪聲生成模塊(3)輸出的噪聲信號進行ASK調制，調制幅度為0％～100％，并把所述噪聲信號的調制信號發送給被測非接觸智能卡。
4.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述非接觸讀卡器模塊(4)在正常傳輸模式配置下，可接收所述嵌入式處理器(2)發送的正常數據，并完成數據調制后發送給被測非接觸智能卡。
5.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述嵌入式處理器(2)配置所述非接觸讀卡器模塊(4)為噪聲傳輸模式并控制所述噪聲生成模塊(3)生成噪聲信號，進行可配置延時后再配置所述非接觸讀卡器模塊(4)為正常傳輸模式，向所述非接觸讀卡器模塊(4)發送正常數據。
6.一種測試方法，應用權利要求1所述的裝置，該測試方法為嵌入式處理器(2)配置非接觸讀卡器模塊(4)為正常傳輸模式，并向非接觸讀卡器模塊(4)發送正常傳輸數據，在非接觸讀卡器模塊(4)把正常數據發送給被測非接觸智能卡后，嵌入式處理器(2)配置噪聲生成模塊(3)的噪聲信號參數，接著嵌入式處理器(2)配置非接觸讀卡器模塊(4)為噪聲傳輸模式，并配置噪聲模式參數，同時嵌入式處理器(2)控制噪聲生成模塊(3)開始輸出噪聲，該噪聲信號通過非接觸讀卡器模塊(4)調制后發送給被測非接觸智能卡，嵌入式處理器(2)通過非接觸讀卡器模塊(4)獲取被測非接觸智能卡返回數據，根據返回數據判斷是否通過本次測試。
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