[發明專利]基于顯微視覺的白玻表面缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 201611092438.2
• 申請日: 2016-11-29
• 公開（公告）號: CN106770372B
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發明（設計）人: 袁倫喜;張正濤;楊化彬;陶顯;徐德
• 申請（專利權）人: 中國科學院自動化研究所;中國科學院自動化研究所（洛陽）機器人與智能裝備創新研究院
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958
• 代理公司: 北京瀚仁知識產權代理事務所(普通合伙) 11482
• 代理人: 宋寶庫

1.一種基于顯微視覺的白玻表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

對白玻表面的圖像進行預處理；

根據預處理的結果確定白玻表面上的候選缺陷；

獲取所述候選缺陷的缺陷特征；

根據所述缺陷特征剔除缺陷干擾項；

根據所述缺陷特征對剩余缺陷進行融合；

計算融合后的缺陷尺寸；

其中，“獲取所述候選缺陷的缺陷特征”的步驟進一步包括獲取下列各項中的至少一項：

所述候選缺陷的最小外接矩形的特征、所述候選缺陷的直線度、所述候選缺陷的平滑度以及所述候選缺陷的亮像素濃度特征。

2.根據權利要求1所述的基于顯微視覺的白玻表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述對白玻表面的圖像進行預處理的步驟進一步包括：

將白玻表面的圖像切割成多個圖像塊。

3.根據權利要求2所述的基于顯微視覺的白玻表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述對白玻表面的圖像進行預處理的步驟還包括：

對所述多個圖像進行二值化處理；

提取所述多個圖像中的輪廓。

4.根據權利要求3所述的基于顯微視覺的白玻表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述根據預處理的結果確定白玻表面上的候選缺陷的步驟進一步包括：

將提取出的輪廓作為白玻表面上的候選缺陷。

5.根據權利要求1所述的基于顯微視覺的白玻表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述亮像素濃度特征通過下列公式計算：

其中，n是所述候選缺陷中包含的灰度值大于250以上的像素點個數，N是所述候選缺陷的總像素個數。

6.根據權利要求1所述的基于顯微視覺的白玻表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述最小外接矩形的特征包括所述最小外接矩形的長度、寬度以及長寬比。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的基于顯微視覺的白玻表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述根據所述缺陷特征剔除缺陷干擾項的步驟進一步包括：

根據所述候選缺陷的最小外接矩形的特征、所述候選缺陷的直線度、所述候選缺陷的平滑度以及所述候選缺陷的亮像素濃度特征中的至少一項來剔除灰塵和纖維。

8.根據權利要求1所述的基于顯微視覺的白玻表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述根據所述缺陷特征對剩余缺陷進行融合的步驟進一步包括：

采用區域生長的方法對剩余缺陷進行分類融合。