[發(fā)明專利]封裝基板及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611089792.X | 申請(qǐng)日: | 2016-12-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108022870B | 公開(公告)日: | 2021-04-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡竹青;許詩(shī)濱 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 恒勁科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/768 | 分類號(hào): | H01L21/768;H01L23/52;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京科龍寰宇知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11139 | 代理人: | 孫皓晨 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 封裝 及其 制作方法 | ||
本發(fā)明公開了一種封裝基板及其制作方法,該封裝基板包括:一鑄模化合物主體;一具有第一阻障層的第一電路元件,設(shè)置于該鑄模化合物主體內(nèi),并具有多個(gè)位于該第一電路元件上側(cè)面的第一連接端;多個(gè)第一導(dǎo)電貫孔,形成于該鑄模化合物主體內(nèi)并連接至該多個(gè)第一連接端;一具有第二阻障層的第二電路元件,設(shè)置于該鑄模化合物主體內(nèi),并具有多個(gè)位于該第二電路元件上側(cè)面的第二連接端;多個(gè)第二導(dǎo)電貫孔,形成于該鑄模化合物主體內(nèi)并連接至第二連接端;以及一重布線層,形成于該鑄模化合物主體上并包含至少一導(dǎo)電線路,其連接至第一導(dǎo)電貫孔及第二導(dǎo)電貫孔;第一連接端位于該鑄模化合物主體內(nèi)的第一深度,第二連接端位于該鑄模化合物主體內(nèi)的第二深度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種晶圓級(jí)封裝基板及其制作方法。
背景技術(shù)
新一代電子產(chǎn)品不僅追求輕薄短小的高密度,更有朝向高功率發(fā)展的趨勢(shì);因此,集成電路(Integrated Circuit,簡(jiǎn)稱IC)技術(shù)及其后端的芯片封裝技術(shù)亦隨之進(jìn)展,以跟隨新一代電子產(chǎn)品的發(fā)展趨勢(shì)。
目前晶圓級(jí)封裝(Wafer-Level Package,簡(jiǎn)稱WLP)的制作方式如圖1a、圖1b、圖1c所示,先在附加電路板11形成黏接層18,如圖1a所示;接著將半導(dǎo)體芯片13或電子元件15的接腳16朝下并通過(guò)該黏接層18而黏貼于該附加電路板11,再以鑄模技術(shù)使鑄模化合物12包覆及封裝該半導(dǎo)體芯片13或電子元件15,如圖1b所示;在去除該附加電路板11及該黏接層18之后,將該半導(dǎo)體芯片13、該電子元件15及該鑄模化合物12的組合結(jié)構(gòu)20上下翻轉(zhuǎn),使得重布線層(ReDistribution Layer,簡(jiǎn)稱RDL)17可制作于該組合結(jié)構(gòu)20的上表面21之上,如圖1c所示。
倘若欲以一般現(xiàn)有的微影技術(shù)制作該重布線層17于該組合結(jié)構(gòu)20的上表面21上,則該上表面21必須能提供很高的平坦度。然而,為了達(dá)到上述對(duì)該上表面21平坦度的要求,該附加電路板11及該黏接層18必須采用較為昂貴的,且該半導(dǎo)體芯片13及該電子元件15必須以精準(zhǔn)而慢速的方式黏貼于該黏接層18;這都將會(huì)提高封裝元件的制造成本。因此,該技術(shù)領(lǐng)域的制造商已經(jīng)不再使用上述微影技術(shù)來(lái)制作細(xì)線路(fine pitch)的重布線層。此外,電子元件15下方必須預(yù)先設(shè)置電極墊,例如凸點(diǎn)下金屬化層(Under BumpMetallization,簡(jiǎn)稱UBM)或凸塊,以使電子元件15的接腳16可電性連接于重布線層17上;其中,UBM的材質(zhì)可為Ti/Cu,可采用濺鍍技術(shù)及微影技術(shù)來(lái)制作,凸塊則可采用電鍍技術(shù)及微影技術(shù)來(lái)制作,但以集成電路晶圓制造過(guò)程來(lái)制作這樣帶有電極墊的電子元件,其制造過(guò)程繁瑣且成本高昂。此外,若先置放電子元件15,再來(lái)制作UMB和重布線層17,則會(huì)因電子元件15、鑄模化合物12及重布線層17之間的材料特性差異,例如熱膨脹系數(shù)的差異,導(dǎo)致電子元件15與重布線層17的電性連接裂開或失效。因此,有必要發(fā)展新的封裝基板技術(shù),以解決上述問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供一種封裝基板,其包含:一鑄模化合物主體;一具有第一阻障層的第一電路元件,設(shè)置于該鑄模化合物主體內(nèi),并具有多個(gè)位于該第一電路元件上側(cè)面的第一連接端;多個(gè)第一導(dǎo)電貫孔,形成于該鑄模化合物主體內(nèi)并連接至該多個(gè)第一連接端;一具有第二阻障層的第二電路元件,設(shè)置于該鑄模化合物主體內(nèi),并具有多個(gè)位于該第二電路元件上側(cè)面的第二連接端;多個(gè)第二導(dǎo)電貫孔,形成于該鑄模化合物主體內(nèi)并連接至該多個(gè)第二連接端;以及一重布線層,形成于該鑄模化合物主體上,并包含至少一導(dǎo)電線路,該至少一導(dǎo)電線路連接至該多個(gè)第一導(dǎo)電貫孔及該多個(gè)第二導(dǎo)電貫孔;其中,該多個(gè)第一連接端位于該鑄模化合物主體內(nèi)的一第一深度,該多個(gè)第二連接端位于該鑄模化合物主體內(nèi)的一第二深度,且該第一深度不同于該第二深度。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,該第一電路元件為半導(dǎo)體芯片或電子元件,且該第二電路元件為半導(dǎo)體芯片或電子元件。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,該多個(gè)阻障層以化學(xué)沉積無(wú)電電鍍方式形成于該第一電路元件與該第二電路元件上,該多個(gè)阻障層為材質(zhì)為銅、銀、鋅/鎳/銅的多層金屬或材質(zhì)為鋅/鎳/銀的多層金屬。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





