[發明專利]挑選測試用屏方法及裝置

有效

• 申請號: 201611075631.5
• 申請日: 2016-11-29
• 公開（公告）號: CN106791824B
• 公開（公告）日: 2019-05-31
• 發明（設計）人: 李輝
• 申請（專利權）人: 深圳TCL數字技術有限公司
• 主分類號: H04N17/04
• 分類號: H04N17/04
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

本發明公開一種挑選測試用屏方法，所述方法包括：獲取所有類型待測試屏的性能參數，將各個類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數子集合，將所有類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數總集合；獲取所有與參數子集合對應待測試屏的測試成本參數；獲取各個參數子集合與參數總集合的交集中性能參數的交集參數數量，并獲取各個參數子集合的交集參數數量與對應測試成本參數的比值；根據所述比值，從所有類型待測試屏中挑選出目標測試用屏，其中所述比值越大，挑選優先級越高。本發明的方案根據各個參數子集合的交集參數數量與對應測試成本參數的比值大小，確定目標測試屏，避免對屏一一測試的費時費力和主觀選取屏測試的不徹底性。

技術領域

本發明主要涉及挑選測試樣品技術領域，具體地說，尤其涉及一種挑選測試用屏方法及其裝置。

背景技術

隨著智能電視的發展，為了實現智能電視的不同功能，其軟件版本的升級越來越頻繁，軟件版本的升級可能會帶來硬件的兼容性問題，導致原來軟件版本所支持的硬件在升級后的軟件版本上不能使用，需要重新對原來所支持的硬件進行測試。

顯示屏作為智能電視必不可少的一部分，為了滿足客戶的不同需求，通常一款電視所匹配的屏非常多，在軟件升級后對所有匹配的屏一一測試的工作量非常大，為了節省時間，會隨機選擇幾款屏進行測試，但是不能覆蓋所有屏，導致某些沒有經過測試的屏不能兼容。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種挑選測試用屏方法及裝置，旨在解決現有技術主觀挑選測試用屏，導致測試不徹底的問題。

為實現上述目的，本發明提供一種挑選測試用屏方法，所述挑選測試用屏方法包括以下步驟：

獲取所有類型待測試屏的性能參數，將各個類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數子集合，將所有類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數總集合；

獲取所有與參數子集合對應待測試屏的測試成本參數；

獲取各個參數子集合與參數總集合的交集中性能參數的交集參數數量，并獲取各個參數子集合的交集參數數量與對應測試成本參數的比值；

根據所述比值，從所有類型待測試屏中挑選出目標測試用屏，其中所述比值越大，挑選優先級越高。

優選地，所述根據所述比值，從所有類型待測試屏中挑選出目標測試用屏，其中所述比值越大，挑選優先級越高的步驟包括：

比較所述各個參數子集合的交集參數數量與對應測試成本參數的比值的大小關系，確定最大比值；

根據所述最大比值，確定與所述最大比值對應的參數子集合；

根據所述參數子集合，挑選出與所述參數子集合對應的目標測試用屏。

優選地，所述根據所述比值，從所有類型待測試屏中挑選出目標測試用屏，其中所述比值越大，挑選優先級越高的步驟之后包括：

控制去除參數總集合中所包含的目標測試用屏的性能參數；

判斷參數總集合中是否至少包含一個性能參數；

若是，則執行獲取各個參數子集合與參數總集合的交集中性能參數的交集參數數量，并獲取各個參數子集合的交集參數數量與對應測試成本參數的比值的步驟。

優選地，所述獲取所有與參數子集合對應待測試屏的測試成本參數的步驟包括：

獲取與參數子集合對應待測試屏的市場使用量、庫存量以及性能參數數量；

獲取與所述市場使用量、庫存量以及性能參數數量對應待測試屏的測試成本參數。

優選地，所述獲取所有類型待測試屏的性能參數，將各個類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數子集合，將所有類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數總集合的步驟包括：