[發明專利]挑選測試用屏方法及裝置

有效

• 申請號: 201611075631.5
• 申請日: 2016-11-29
• 公開（公告）號: CN106791824B
• 公開（公告）日: 2019-05-31
• 發明（設計）人: 李輝
• 申請（專利權）人: 深圳TCL數字技術有限公司
• 主分類號: H04N17/04
• 分類號: H04N17/04
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

1.一種挑選測試用屏方法，其特征在于，所述挑選測試用屏方法包括以下步驟：

獲取所有類型待測試屏的性能參數，將各個類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數子集合，將所有類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數總集合；

獲取所有與參數子集合對應待測試屏的測試成本參數；

獲取各個參數子集合與參數總集合的交集中性能參數的交集參數數量，并獲取各個參數子集合的交集參數數量與對應測試成本參數的比值；

根據所述比值，從所有類型待測試屏中挑選出目標測試用屏，其中所述比值越大，挑選優先級越高；

其中，所述根據所述比值，從所有類型待測試屏中挑選出目標測試用屏的步驟之后包括：

控制去除參數總集合中所包含的目標測試用屏的性能參數；

判斷去除目標測試用屏的性能參數后的參數總集合中是否至少包含一個性能參數；

若是，則執行獲取各個參數子集合與參數總集合的交集中性能參數的交集參數數量，并獲取各個參數子集合的交集參數數量與對應測試成本參數的比值的步驟，直到參數總集合不包括任何性能參數。

2.如權利要求1所述的挑選測試用屏方法，其特征在于，所述根據所述比值，從所有類型待測試屏中挑選出目標測試用屏，其中所述比值越大，挑選優先級越高的步驟包括：

比較所述各個參數子集合的交集參數數量與對應測試成本參數的比值的大小關系，確定最大比值；

根據所述最大比值，確定與所述最大比值對應的參數子集合；

根據所述參數子集合，挑選出與所述參數子集合對應的目標測試用屏。

3.如權利要求1-2任一項所述的挑選測試用屏方法，其特征在于，所述獲取所有與參數子集合對應待測試屏的測試成本參數的步驟包括：

獲取與參數子集合對應待測試屏的市場使用量、庫存量以及性能參數數量；

獲取與所述市場使用量、庫存量以及性能參數數量對應待測試屏的測試成本參數。

4.如權利要求1-2任一項所述的挑選測試用屏方法，其特征在于，所述獲取所有類型待測試屏的性能參數，將各個類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數子集合，將所有類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數總集合的步驟包括：

確定所有類型待測試屏的型號；

獲取所有類型待測試屏型號中每種類型待測試屏的性能參數；

將每種類型待測試屏的性能參數組成集合，并將此集合作為參數子集合；

控制去除所有類型待測試屏型號中每種類型待測試屏的性能參數的重復項參數，組成包含所有類型待測試屏的性能參數集合，并將此集合作為參數總集合。

5.一種挑選測試用屏裝置，其特征在于，所述挑選測試用屏裝置包括：

第一獲取模塊，用于獲取所有類型待測試屏的性能參數，將各個類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數子集合，將所有類型待測試屏的性能參數組成的集合作為參數總集合；

第二獲取模塊，用于獲取所有與參數子集合對應待測試屏的測試成本參數；

第三獲取模塊，用于獲取各個參數子集合與參數總集合的交集中性能參數的交集參數數量，并獲取各個參數子集合的交集參數數量與對應測試成本參數的比值；

挑選模塊，用于根據所述比值，從所有類型待測試屏中挑選出目標測試用屏，其中所述比值越大，挑選優先級越高；

其中，所述挑選測試用屏裝置還包括：

剔除模塊，用于控制去除參數總集合中所包含的目標測試用屏的性能參數；

判斷模塊，用于判斷去除目標測試用屏的性能參數后的參數總集合中是否至少包含一個性能參數；

在判斷模塊判斷出去除目標測試用屏的性能參數后的參數總集合中至少包含一個性能參數時，所述第三獲取模塊獲取各個參數子集合與參數總集合的交集中性能參數的交集參數數量，并獲取各個參數子集合的交集參數數量與對應測試成本參數的比值，直到參數總集合不包括任何性能參數。