[發(fā)明專利]一種擴散片退火工藝有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611073147.9 | 申請日: | 2016-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN108122741B | 公開(公告)日: | 2021-07-02 |
| 發(fā)明(設計)人: | 周炯;李志丹;張俊 | 申請(專利權)人: | 上海微電子裝備(集團)股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/265 | 分類號: | H01L21/265;H01L21/268;H01L21/324;H01L21/331 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李時云 |
| 地址: | 201203 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 擴散 退火 工藝 | ||
本發(fā)明公開了一種擴散片退火工藝,首先選擇厚度范圍為150~200μm的擴散片作為襯底,通過表面清洗并注入N型離子,經(jīng)爐管完全退火形成一定的擴散注入曲線,推結形成第一緩沖層;其次在擴散片正面依次完成N?襯底層和正面金屬層;再次將擴散片翻轉180度,對擴散片背面進行研磨至設定厚度,再進行表面拋光處理和表面化學修復;然后依次進行N型離子摻雜和P型離子摻雜注入和至少一次的激光退火制程,形成第二緩沖層和P層;最后經(jīng)過背金工藝完成擴散片背面金屬層。本發(fā)明將擴散片與激光退火工藝優(yōu)勢互補,不僅滿足了FS?IGBT背面工藝的薄片需求,獲得相似地電性能參數(shù),同時簡化了工藝流程,降低了制造成本。
技術領域
本發(fā)明涉及退火技術領域,具體涉及一種擴散片退火工藝。
背景技術
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,絕緣柵雙極型晶體管)作為新型功率半導體器件,是功率半導體器件第三次技術革命的代表性產(chǎn)品,廣泛應用于軌道交通、航空航天、船舶驅(qū)動、智能電網(wǎng)、新能源、交流變頻、風力發(fā)電、電機傳動、汽車等強電控制等產(chǎn)業(yè)領域。它問世近三十年,國內(nèi)業(yè)內(nèi)已做到8英寸晶圓、6500伏的高水平。由于它在強電領域廣泛應用,專業(yè)人士已十分了解。從技術角度上看,IGBT技術含量高、制造難度大,這是阻礙IGBT芯片開發(fā)的主要原因之一;從制造工藝上看,其與集成電路有雷同之處,但集成電路廠沒有功率電子的生產(chǎn)工藝,且設計思路也不一樣。但就承受電壓來說要達到數(shù)千伏,硅片厚度減薄至40μm及以下,遠遠超過了集成電路,因此需要專門的背面工藝開發(fā)設備,如高能離子注入設備,激光退火設備,Taiko減薄設備,質(zhì)子輻照設備等。針對背面工藝的不斷優(yōu)化過程,也是新材料、新工藝的應用階段,同時針對IGBT襯底硅材料也細分為CZ(直拉法)、FZ(水平區(qū)域熔化生長法)和擴散片工藝。
IGBT的制作需要這樣一種襯底材料,即在低阻P+上形成厚的高阻N Buffer層(緩沖層),從而獲得高的擊穿電壓和低的導通電阻,對于此種襯底材料的制作一般采用三重擴散、厚外延技術或硅片直接鍵合技術(SDB),如表1所示。具體來說,三重擴散需要數(shù)十至數(shù)百小時的高溫(1260℃)熱擴散,這勢必會引起大量的再生熱缺陷,從而影響器件的電性能參數(shù);而厚外延技術除了存在不可避免地自擴散現(xiàn)象以外,要獲得良好的表面是十分困難的;相比較而言,SDB技術可以克服以上缺點,是一種比較理想的方法,但由于國內(nèi)的SDB工藝技術的現(xiàn)狀難以實現(xiàn)大批量生產(chǎn),而且價格相當昂貴,鑒于IGBT卓越的功率性能和廣泛的應用,采用三重擴散工藝形成的擴散片作為IGBT的襯底技術最合適,然而在制作時需要進行背面大結深退火。
表1
現(xiàn)有的FS-IGBT(場中止型IGBT)背面大結深退火方法主要有三種:
第一種方法采用質(zhì)子輻照加上爐管低溫退火完成,可以實現(xiàn)10μm以上退火需求,如圖1所示,為各成分濃度隨深度的變化曲線,通過一次或多次質(zhì)子輻照形成背面Buff N+層,其注入能量100-500KeV,300-400度退火,因此適合各種厚度的硅片,可以滿足各種工藝需求,但是工藝成本高;
第二種方法采用了高能離子注入和激光退火技術,適用于220μm以下薄片退火需求,可以實現(xiàn)了0~10μm的退火工藝需求,可以搭配不同類型激光器,工藝適應性廣,退火曲線可以實現(xiàn)工藝精確控制,但是工藝受高能離子注入以及硅片耐溫限制,工藝成本適中;
第三種方法采用擴散片工藝,一般適用于220μm以上厚片退火需求,可以實現(xiàn)10μm以上退火需求,因其厚N Buffer(緩沖層)通過擴散工藝形成,工藝成本最低,但是電性能參數(shù)較前兩種技術方法有差距。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種擴散片退火工藝,以解決現(xiàn)有技術中存在的問題。
為了解決上述技術問題,本發(fā)明的技術方案是:一種擴散片退火工藝,包括以下步驟:
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





