[發明專利]一種擴散片退火工藝有效
| 申請號: | 201611073147.9 | 申請日: | 2016-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN108122741B | 公開(公告)日: | 2021-07-02 |
| 發明(設計)人: | 周炯;李志丹;張俊 | 申請(專利權)人: | 上海微電子裝備(集團)股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/265 | 分類號: | H01L21/265;H01L21/268;H01L21/324;H01L21/331 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李時云 |
| 地址: | 201203 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 擴散 退火 工藝 | ||
1.一種擴散片退火工藝,其特征在于,包括以下步驟:
S1:選擇厚度范圍為150~200μm的擴散片作為襯底,通過表面清洗并注入N型離子,經爐管完全退火形成擴散注入曲線,推結形成第一緩沖層;
S2:在擴散片正面依次形成N-襯底層和正面金屬層;
S3:將擴散片翻轉180度,對擴散片背面進行研磨至設定厚度,再進行表面拋光處理和表面化學修復;
S4:在擴散片背面依次進行N型離子摻雜和P型離子摻雜和至少一次的激光退火制程,形成第二緩沖層和P層,其中,當N型離子摻雜和P型離子摻雜注入的總范圍小于2um時,先進行N型離子摻雜,在襯底上追加形成第二緩沖層,接著進行P型離子摻雜,在P型離子摻雜注入后進行一次激光退火,以實現N型峰值輪廓及原位不推結退火;當N型離子摻雜和P型離子摻雜注入的總范圍大于2um時,先進行N型離子摻雜,在襯底上追加形成第二緩沖層,并進行第一次激光退火,以實現N型峰值輪廓及原位不推結退火,接著進行P型離子摻雜,并進行第二次激光退火,以實現N型峰值輪廓及原位不推結退火;
S5:經過背金工藝完成背面金屬層。
2.根據權利要求1所述的擴散片退火工藝,其特征在于,所述步驟S1中,所述擴散注入曲線為N型離子的摻雜濃度和推結深度的關系曲線,所述推結深度為擴散片厚度的1/4~3/4。
3.根據權利要求1所述的擴散片退火工藝,其特征在于,所述步驟S2中,通過離子化金屬等離子體工藝控制獲得正面工藝所需N-襯底層。
4.根據權利要求1所述的擴散片退火工藝,其特征在于,所述步驟S3中,對擴散片進行表面拋光處理和表面化學修復后,最終的厚度為100~150um。
5.根據權利要求1所述的擴散片退火工藝,其特征在于,所述步驟S4中,先在0.5~2μm范圍內進行N型離子摻雜,在襯底上追加形成第二緩沖層,接著在0~0.5μm范圍內進行P型離子摻雜,然后進行一次激光退火。
6.根據權利要求5所述的擴散片退火工藝,其特征在于,所述激光退火采用綠光波長的激光實現N型和P型峰值輪廓及原位不推結退火。
7.根據權利要求1所述的擴散片退火工藝,其特征在于,所述步驟S4中,先在0.5~5μm的范圍內進行N型離子摻雜,在襯底上追加形成第二緩沖層,并進行第一次激光退火,接著在0~0.5μm的范圍內進行P型離子摻雜,并進行第二次激光退火。
8.根據權利要求7所述的擴散片退火工藝,其特征在于,所述第一次激光退火采用綠光波長的激光和紅外波長激光相結合,實現N型峰值輪廓及原位不推結退火。
9.根據權利要求7所述的擴散片退火工藝,其特征在于,所述第二次激光退火采用綠光波長的激光退火,實現N型峰值輪廓及原位不推結退火。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





