[發明專利]服從二項分布的計件值工序能力指數評價方法

有效

• 申請號: 201611067417.5
• 申請日: 2016-11-28
• 公開（公告）號: CN106779322B
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 游海龍;賈新章;田文星;張金力;顧鎧
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06
• 代理公司: 陜西電子工業專利中心 61205
• 代理人: 王品華;朱紅星

1.一種服從二項分布的計件值工序能力指數評價方法，特征在于，包括如下：

(1)采集樣本：

在某軸承組裝工序中，連續采集生產過程中以不合格品率為參數的m批樣本，其中m≥20，統計每批樣本中的不合格品率p_i＝D_i/n，記錄在表格中，其中D_i為第i批產品加工中的不合格品數，n為每批加工的樣本量，p_i為第i批加工中的不合格品率，i＝1，2,…,m；

(2)獲得組裝工序樣本抽樣批次成品率：

2a)根據每批產品的不合格品率，獲得不合格品率的平均值：

2b)根據不合格品率的上規范限T_U和每批加工的樣本量，獲得每批不合格品數的上規范限：其中，符號表示向下取整，即表示如果T_U×n不是整數，需舍去小數位數字取整；

2c)根據不合格品率的平均值和不合格品數上規范限，獲得批次成品率η：

其中

(3)計算組裝工序能力指數：

3a)根據批次成品率η，利用設計水平P與批次成品率η關系式：η＝Φ(1.5+P)-Φ(1.5-P)，獲得設計水平P，其中Φ(·)表示標準正態累計分布函數；

3b)根據設計水平P，獲得組裝工序能力指數：

(4)將工序能力指數C_PU與軸承生產廠家對軸承組裝的工序能力指數的質量要求規定值C_Q＝1進行比較，判斷是否繼續進行生產：

若C_PU≥C_Q，則組裝工序制造能力滿足規定要求，繼續進行生產；

若C_PU＜C_Q，則組裝工序制造能力不滿足規定要求，停產并檢查工序能力不足的原因。