[發明專利]一種吸波材料輻射影響仿真方法和系統

有效

• 申請號: 201611066834.8
• 申請日: 2016-11-25
• 公開（公告）號: CN106646035B
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發明（設計）人: 康寧;吳紅森;袁巖興;黃建領
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 黃熊

本申請公開了一種吸波材料輻射影響仿真方法和系統，解決現有技術對吸波材料建模計算困難的問題。所述方法包括以下步驟：在所述電磁兼容暗室內建立輻射源和接收天線；在輻射源關于每個鋪設有吸波材料的內表面的鏡像位置，分別建立一個等效輻射源，等效輻射源的強度為所述輻射源強度與所述吸波材料反射損耗的乘積；在未鋪設吸波材料的內表面為良導體、去除鋪設有吸波材料內表面、保留等效輻射源的條件下計算所述接收天線接收到的輻射場強度，作為仿真場強度。本申請實施例還提供一種吸波材料輻射影響仿真系統，用于仿真電磁兼容暗室，所述仿真系統包含：仿真源、仿真接收天線、等效源、良導體板。本申請降低計算資源需求，提高運算效率。

技術領域

本申請涉及電磁場測量領域，尤其涉及一種分析吸波材料對輻射影響的仿真方法和系統。

背景技術

輻射發射試驗是重要的電磁兼容試驗項目，試驗場地性能的好壞會對輻射發射試驗結果產生較大的影響。常用的試驗場地是由墻面鋪設吸波材料的屏蔽室建成的電磁兼容暗室，墻面吸波材料的反射特性影響暗室性能，進而影響輻射發射試驗結果。

為了評估吸波材料反射損耗對暗室輻射發射試驗結果的影響，一般通過數值模擬方法，對暗室及其內表面貼覆的吸波材料進行精確建模。在考慮暗室吸波材料對被測件輻射信號的反射時，需要按照吸波材料的結構形式、尺寸參數及材料參數進行完全實物建模。對于吸波材料的模擬，根據其實際結構形式及尺寸參數進行建模，同時需要對其材料參數進行設置。在電磁兼容暗室內，常用的吸波材料為角錐結構形式。在進行電磁仿真計算時，需要將所有的角錐結構內部進行網格剖分，從而得到其電磁仿真結果。在該仿真分析方法中，不僅需要暗室大小參數、結構形狀，還需吸波材料長短、結構、分布、性能等信息，建立仿真模型，分析吸波材料反射損耗對暗室輻射發射試驗的影響。

吸波材料建模過程中，首先，吸波材料的結構形式多樣，建立準確模型的難度較大；其次，吸波材料的組成成分復雜，多為復合材料，其材料參數難以獲得；而且，完全實物建模在仿真計算時會導致模型劃分網格數量巨大，計算資源需求龐大，運算時間超長，運算效率低下，實時性與實用性低。

發明內容

本申請提出一種吸波材料輻射影響仿真方法和系統，解決現有技術對吸波材料建模計算困難的問題，方法可有效地解決以上不足。

本申請實施例提供一種吸波材料輻射影響仿真方法，用于電磁兼容暗室，所述電磁兼容暗室為封閉的六面體屏蔽室，至少一個內表面鋪設有吸波材料，其特征在于，包括以下步驟：

在所述電磁兼容暗室內建立輻射源和接收天線；

在所述輻射源關于每個所述鋪設有吸波材料的內表面的鏡像位置，分別建立一個等效輻射源，所述等效輻射源的強度為所述輻射源強度與所述吸波材料反射損耗的乘積；

在未鋪設吸波材料的內表面為良導體、去除鋪設有吸波材料內表面、保留等效輻射源的條件下計算所述接收天線接收到的輻射場強度，作為仿真場強度。

優選地，所述吸波材料輻射影響仿真方法，還包括以下步驟：

在未鋪設吸波材料的內表面為良導體、在鋪設有吸波材料內表面無反射的條件下計算所述接收天線收到的輻射場強度，作為理想場強度；

計算所述理想場強度和所述仿真場強度的差值。