[發明專利]一種存儲單元的擦除方法及裝置在審
| 申請號: | 201611056066.8 | 申請日: | 2016-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN108109659A | 公開(公告)日: | 2018-06-01 |
| 發明(設計)人: | 胡洪;張建軍;卜爾龍 | 申請(專利權)人: | 北京兆易創新科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C16/14 | 分類號: | G11C16/14;G11C16/30 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆;胡彬 |
| 地址: | 100083 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存儲單元 擦除 存儲器芯片 擦除電壓 溫度確定 施加 擦除性能 擦除指令 技術手段 過擦除 | ||
1.一種存儲單元的擦除方法,其特征在于,包括:
接收擦除指令;
根據存儲器芯片的當前溫度確定當前擦除電壓;
向所述存儲器芯片的存儲單元施加所述當前擦除電壓。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據存儲器芯片的當前溫度確定當前擦除電壓之前,還包括:
通過溫度傳感器檢測所述存儲器芯片的當前溫度。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述根據存儲器芯片的當前溫度確定當前擦除電壓,包括:
若所述存儲器芯片的當前溫度低于低溫預設值,以默認擦除電壓為基準增大擦除電壓,以使存儲單元的柵源電壓差增大,將增大后的擦除電壓確定為所述當前擦除電壓;
若所述存儲器芯片的當前溫度高于高溫預設值,以默認擦除電壓為基準減小擦除電壓,以使存儲單元的柵源電壓差減小,將減小后的擦除電壓確定為所述當前擦除電壓。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據存儲器芯片的當前溫度確定當前擦除電壓,還包括:
若所述存儲器芯片的當前溫度既不低于所述低溫預設值,也不高于所述高溫預設值,則將所述默認擦除電壓作為所述當前擦除電壓。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述向所述存儲器芯片的存儲單元施加所述當前擦除電壓,包括:
向所述存儲單元的柵極、源極以及P型阱分別施加相應的所述當前擦除電壓。
6.一種存儲單元的擦除裝置,其特征在于,包括:
接收模塊,用于接收擦除指令;
確定模塊,用于根據存儲器芯片的當前溫度確定當前擦除電壓;
施加模塊,用于向所述存儲器芯片的存儲單元施加所述當前擦除電壓。
7.根據權利要求6所述的裝置,其特征在于,還包括:
檢測模塊,用于在所述根據存儲器芯片的當前溫度確定當前擦除電壓之前,通過溫度傳感器檢測所述存儲器芯片的當前溫度。
8.根據權利要求6或7所述的裝置,其特征在于,所述確定模塊包括:
增大單元,用于若所述存儲器芯片的當前溫度低于預設值,以默認擦除電壓為基準增大擦除電壓,以使存儲單元的柵源電壓差增大;
第一確定單元,用于將增大后的擦除電壓確定為所述當前擦除電壓;
減小單元,用于若所述存儲器芯片的當前溫度高于高溫預設值,以默認擦除電壓為基準減小擦除電壓,以使存儲單元的柵源電壓差減小;
第二確定單元,用于將減小后的擦除電壓確定為所述當前擦除電壓。
9.根據權利要求8所述的裝置,其特征在于,所述確定模塊,還包括:
第三確定單元,用于若所述存儲器芯片的當前溫度既不低于所述低溫預設值,也不高于所述高溫預設值,則將所述默認擦除電壓作為所述當前擦除電壓。
10.根據權利要求9所述的裝置,其特征在于,所述施加模塊具體用于:
向所述存儲單元的柵極、源極以及P型阱分別施加相應的所述當前擦除電壓。
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