[發明專利]集成電路旋轉換向裝置及旋轉換向方法

有效

• 申請號: 201611048318.2
• 申請日: 2016-11-24
• 公開（公告）號: CN106608519B
• 公開（公告）日: 2019-05-31
• 發明（設計）人: 張新;舒星星;韓笑
• 申請（專利權）人: 杭州長川科技股份有限公司
• 主分類號: B65G47/248
• 分類號: B65G47/248
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109
• 代理人: 尉偉敏

本發明涉及集成電路分選領域，目的是提供一種集成電路旋轉換向裝置及旋轉換向方法。一種集成電路旋轉換向裝置，包括：設有入料通道的入料軌道，設有出料通道的出料軌道，旋轉換向機構，設有原點檢測組件的旋轉驅動機構；旋轉換向機構包括：設有兩個端板、底座和頂板的機座，與端板樞接的轉軸，上端設有圓弧面且下端與底座連接的下擋料塊，下端設有圓弧面且上端與頂板連接的上擋料塊，與轉軸連接的換向塊；入料軌道的一端位于下擋料塊一端和上擋料塊一端之間；出料軌道的一端位于下擋料塊另一端和上擋料塊另一端之間；換向塊的相對兩端各設有一個容置沉孔。該集成電路旋轉換向裝置換向精度較高且集成電路不易產生損傷。

技術領域

本發明涉及集成電路分選領域，尤其是一種集成電路旋轉換向裝置及旋轉換向方法。

背景技術

集成電路分選機是用于對集成電路產品進行性能測試的設備；集成電路測試時管腳朝上，為了實現集成電路測試后進行編帶，需要對集成電路翻面，使管腳朝下；目前的換向機構存在換向精度較低且集成電路易產生損傷的不足；因此，設計一種換向精度較高且集成電路不易產生損傷的集成電路旋轉換向裝置及旋轉換向方法，成為亟待解決的問題。

發明內容

本發明的目的是為了克服目前的換向機構存在換向精度較低且集成電路易產生損傷的不足，提供一種換向精度較高且集成電路不易產生損傷的集成電路旋轉換向裝置及旋轉換向方法。

本發明的具體技術方案是：

一種集成電路旋轉換向裝置，包括：設有入料通道的入料軌道，設有出料通道的出料軌道；所述的集成電路旋轉換向裝置還包括：旋轉換向機構，設有原點檢測組件的旋轉驅動機構；旋轉換向機構包括：設有兩個端板、底座和頂板的機座，與端板樞接的轉軸，上端設有與轉軸同軸的圓弧面且下端與底座連接的下擋料塊，下端設有與轉軸同軸的圓弧面且上端與頂板連接的上擋料塊，與轉軸連接的換向塊；入料軌道的一端位于下擋料塊一端和上擋料塊一端之間；出料軌道的一端位于下擋料塊另一端和上擋料塊另一端之間；換向塊的相對兩端各設有一個容置沉孔；初始狀態時，入料通道與一個容置沉孔相對；出料通道與另一個容置沉孔相對。所述的集成電路旋轉換向裝置由控制器控制，原點檢測組件和旋轉驅動機構分別與控制器通信連接；集成電路旋轉換向裝置使用時，底座斜裝，入料通道的出口端高于出料通道的進口端；旋轉驅動機構經轉軸帶動換向塊轉動，原點檢測組件檢測確定換向塊的位置原點；在重力作用下，第一個集成電路從入料通道落入一個容置沉孔中；旋轉驅動機構經轉軸帶動換向塊轉動，圓弧面擋住集成電路不從容置沉孔中脫出；當第一個集成電路轉動到與出料通道相對時，第一個集成電路落入出料通道中完成旋轉換向，第二個集成電路從入料通道落入另一個容置沉孔中。該集成電路旋轉換向裝置換向精度較高且集成電路不易產生損傷。

作為優選，所述的旋轉驅動機構包括：與底座連接的雙出軸伺服電機，與雙出軸伺服電機的輸出前軸連接的聯軸器；聯軸器的另一端與轉軸的一端連接；原點檢測組件包括：與雙出軸伺服電機的輸出后軸連接的原點檢測盤，與機座連接的原點檢測傳感器；原點檢測盤側圍設有分別與原點檢測盤兩端貫通的原點檢測槽。旋轉驅動機構和原點檢測組件結構簡單且精度高。

作為優選，所述的旋轉驅動機構還包括罩住雙出軸伺服電機、原點檢測盤和原點檢測傳感器的防護罩；防護罩與底座上端連接。防護罩防護雙出軸伺服電機、原點檢測盤和原點檢測傳感器不受損傷。