[發(fā)明專利]空間自調(diào)焦激光差動(dòng)共焦拉曼光譜探測方法與裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611038963.6 | 申請日: | 2016-11-21 |
| 公開(公告)號: | CN106770154B | 公開(公告)日: | 2020-03-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 祝連慶;王帥;張雯;姚齊峰;董明利;婁小平;駱飛 | 申請(專利權(quán))人: | 北京信息科技大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65;G01J3/44;G01J3/02 |
| 代理公司: | 北京律恒立業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11416 | 代理人: | 顧珊;龐立巖 |
| 地址: | 100085 北京市海淀區(qū)清*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 空間 調(diào)焦 激光 差動(dòng) 共焦拉曼 光譜 探測 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種空間自調(diào)焦激光差動(dòng)共焦拉曼光譜探測方法與裝置,本發(fā)明在光譜探測中引入調(diào)焦望遠(yuǎn)技術(shù)、差動(dòng)共焦技術(shù),并利用二向色分光系統(tǒng),對瑞利散射光和拉曼散射光進(jìn)行無損分離,利用差動(dòng)共焦響應(yīng)曲線過零點(diǎn)與焦點(diǎn)位置精確對應(yīng)的特性,通過尋找響應(yīng)過零點(diǎn)來精確控制望遠(yuǎn)調(diào)焦系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整焦點(diǎn),使激發(fā)光束自動(dòng)聚焦到被測對象,同時(shí)獲取激光光斑焦點(diǎn)位置的光譜信息,實(shí)現(xiàn)空間自動(dòng)調(diào)焦的光譜探測。本發(fā)明具有自動(dòng)調(diào)焦、定位準(zhǔn)確特點(diǎn)和擴(kuò)大探測范圍及提高光譜探測靈敏度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及空間光學(xué)成像和光譜測量技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種空間自調(diào)焦激光差動(dòng)共焦拉曼光譜探測方法與裝置。
背景技術(shù)
激光共焦拉曼光譜測試技術(shù)是將空間成像技術(shù)與拉曼光譜分析技術(shù)結(jié)合起來的新技術(shù),它將入射激光通過自調(diào)焦望遠(yuǎn)調(diào)焦系統(tǒng)聚焦到樣品上,從而可以在較遠(yuǎn)的距離上在不受周圍物質(zhì)干擾的情況下,獲得所照樣品的物質(zhì)成分結(jié)構(gòu)和組成等,提供較好的分子“指紋”特征。它不僅可以觀測樣品同一層面內(nèi)不同微區(qū)的拉曼光譜信號,還能分別觀測樣品空間深度不同的層面的拉曼信號,對被測樣品進(jìn)行空間掃描,從而在不損傷樣品的情況下達(dá)到進(jìn)行圖譜探測的效果。激光共焦拉曼光譜測試技術(shù)由于其無損光譜層析成像能力及高分辨率,已廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、石油化工、環(huán)境科學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)、邢偵、考古和珠寶鑒定等領(lǐng)域。
目前現(xiàn)有激光共焦拉曼光譜儀采用了顯微系統(tǒng),限制了系統(tǒng)可探測范圍;采用三維移動(dòng)平臺作為樣品承載平臺,限制了樣品尺寸和存在形態(tài);利用弱的拉曼散射光進(jìn)行定位,降低了系統(tǒng)的定焦靈敏度;;長時(shí)間光譜探測過程中,系統(tǒng)容易受環(huán)境等因素影響發(fā)生漂移,產(chǎn)生離焦,降低系統(tǒng)長期工作的可靠性;系統(tǒng)只可進(jìn)行光譜探測,模式單一;測量過程中需要遮避光,工作環(huán)境受到限制。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種空間自調(diào)焦激光差動(dòng)共焦拉曼光譜探測方法與裝置來克服現(xiàn)有共焦拉曼光譜探測技術(shù)探測范圍難以提高問題。
本發(fā)明的技術(shù)方案是:一種空間自調(diào)焦差動(dòng)共焦拉曼光譜探測裝置,包括激發(fā)光束系統(tǒng),望遠(yuǎn)調(diào)焦系統(tǒng),二向色分光系統(tǒng),第一分光系統(tǒng),拉曼光譜探測系統(tǒng),差動(dòng)共焦探測系統(tǒng)及數(shù)據(jù)處理模塊和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng);其中,所述激發(fā)光束系統(tǒng)、望遠(yuǎn)調(diào)焦系統(tǒng)沿光路依次置于二向色分光系統(tǒng)的反射方向;所述的第一分光系統(tǒng)置于二向色分光系統(tǒng)的透射方向,拉曼光譜探測系統(tǒng)位于第一分光系統(tǒng)的透射方向,差動(dòng)共焦探測系統(tǒng)位于第一分光系統(tǒng)的反射方向;所述的數(shù)據(jù)處理模塊與拉曼光譜探測系統(tǒng)和差動(dòng)共焦探測系統(tǒng)及望遠(yuǎn)調(diào)焦系統(tǒng)連接。
優(yōu)選的,所述的激發(fā)光束系統(tǒng)還包括偏振調(diào)制器及光瞳濾波器,用于產(chǎn)生偏振光及空間結(jié)構(gòu)光束,用于提高系統(tǒng)的光學(xué)性能。
優(yōu)選的,用于壓縮激發(fā)光斑的光瞳濾波器位于偏振控制器與二向色分光系統(tǒng)之間或位于二向色分光系統(tǒng)與望遠(yuǎn)調(diào)焦系統(tǒng)之間。
優(yōu)選的,激發(fā)光束系統(tǒng)和望遠(yuǎn)調(diào)焦系統(tǒng)置于二向色分光系統(tǒng)的透射方向,第一分光系統(tǒng)置于二向色分光系統(tǒng)的反射方向,拉曼光譜探測系統(tǒng)位于第一分光系統(tǒng)的透射方向,差動(dòng)共焦探測系統(tǒng)位于第一分光系統(tǒng)的反射方向,數(shù)據(jù)處理模塊連接共焦探測系統(tǒng)與拉曼光譜探測系統(tǒng)及望遠(yuǎn)調(diào)焦系統(tǒng)。
優(yōu)選的,拉曼光譜探測系統(tǒng)是普通拉曼光譜探測系統(tǒng),包括沿光路依次放置的第五聚光鏡,位于第五聚光鏡焦點(diǎn)位置的第一光譜儀及位于第一光譜儀后的第二探測器,用于被測樣品的表面光譜的探測,或是共焦拉曼光譜探測系統(tǒng),包括沿光路依次放置的第七聚光鏡,位于第七聚光鏡焦點(diǎn)位置的第三針孔,位于第三針孔后的第八聚光鏡,位于第八聚光鏡焦點(diǎn)位置的第二光譜儀及位于第二光譜儀后的第三探測器,用于提高系統(tǒng)信噪比和空間分辨力,完成對被測樣品的光譜探測。
優(yōu)選的,數(shù)據(jù)處理模塊包括用于處理位置信息的差動(dòng)共焦數(shù)據(jù)處理模塊、用于處理位置信息和光譜信息的數(shù)據(jù)融合模塊和用于控制望遠(yuǎn)調(diào)焦系統(tǒng)調(diào)焦的數(shù)據(jù)控制模塊。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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- 轉(zhuǎn)換裝置及自動(dòng)轉(zhuǎn)換開關(guān)電器
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