[發明專利]一種新的違規電子設備檢測系統及檢測方法

有效

• 申請號: 201611031116.7
• 申請日: 2016-11-17
• 公開（公告）號: CN106772666B
• 公開（公告）日: 2019-04-09
• 發明（設計）人: 向龍鳳;劉江;樊博宇;肖開奇;夏碧君;曾躍勝
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十九研究所
• 主分類號: G01V9/00
• 分類號: G01V9/00
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 鄧世燕

本發明公開了一種新的違規電子設備檢測系統及檢測方法，檢測系統包括分別與FPGA信號處理及控制板連接的計算機、第一發射模塊、第二發射模塊、射頻接收模塊和磁傳感器，所述第一發射模塊依次與第一單刀十擲開關、第一帶通濾波器和第一發射天線連接；所述第二發射模塊依次與第二單刀十擲開關、第二帶通濾波器和第二發射天線連接；所述射頻接收模塊依次與寬帶單刀十擲開關、寬帶濾波器和接收天線連接。本發明能滿足違規電子設備檢測性能的需求，可在保證誤報概率較低的同時，以解決現有金屬探測器對違規電子產品漏報率高且對隨身金屬制品誤報率高的問題，實現違規電子產品的有效檢測。

技術領域

本發明涉及一種諧波探測及磁探測系統，特別是涉及一種雙模安檢門系統。

背景技術

近幾年隨著各種智能電子設備的普及，電子設備泄密正在成為新的泄密途徑，成為最大的安全隱患。各重要部門和場所可能會受到來自外部的各種電子設備竊視、竊密、竊聽的威脅。對于涉密環境的防失泄密管理，通過管理手段，信息化手段存在高投入、不能完全有效、事后檢查、影響正常事務處理等各種弊端?，F有的安檢技術大致可分為以下幾種：1)金屬磁探測；2)X光機檢測；3)非線性結探測以及4)“毫米波成像”技術等。然而，針對電子設備檢測的問題，多采用金屬磁探測以及非線性結探測技術?，F有的金屬探測在探測電子設備方面有其局限性，如：SD卡、塑料殼U盤等，它們的磁感應特性很微弱，很難被金屬探測門檢測出來，如采用提高靈敏度的辦法，將會導致安檢系統的虛警率急劇升高?；诜蔷€性結探測技術的英國AUDIOTEL檢測門采用單頻體制，基波頻率接近GSM通信頻率，因此，其接收信號容易受手機通訊信號的影響，使得該檢測門抗干擾能力急劇下降，并且價格昂貴。將“毫米波成像”技術通過對被測物進行成像，從圖像上分辨可疑物。本發明是利用被測物固有的非線性散射特性和磁性特性實現安全檢測的目標，能有效地實現SD卡、針孔攝像頭、U盤、手機、相機、竊聽器等電子產品的檢測。

非線性結探測器的發展得益于諧波再輻射效應的發現及深入研究。早在20世紀30年代末，人們就證實了諧波再輻射效應的存在，但在當時對于產生這種效應的原理還不清楚。直到20世紀70年代隨著雷達技術的發展和測試技術的提高，人們才逐漸對諧波再輻射效應的原理有了進一步研究——提出非線性目標的物理模型。并從非線性網絡的觀點出發，建立非線性接點的網絡模型，通過網絡模型研究入射電磁波和散射電磁波的關系來計算非線性接點的轉移函數。

已有研究結果表明：在單頻模式下，主要采用接收二次諧波三次諧波的方式，半導體PN結的二次諧波能量最強，三次諧波次之；人造金屬結主要產生奇次諧波，其中三次諧波能量最強。而在雙頻模式下，主要采用接收組合波形式，其二次組合波電流幅度是二次單頻率諧波電流幅度的2倍，即二次組合波功率可增加4倍；三次組合波電流幅度是三次單頻率諧波電流幅度的3倍，即三次組合波功率可增加9倍。

諧波再輻射效應的研究促進了非線性結探測器的發展與應用。在20世紀90年代以前，非線性結探測器主要是以單頻模式工作，如：國外以美國為代表的ISR公司，在70、80年代時，分別推出了大功率三次諧波探地雷達——METRRA金屬再輻射雷達和BOOMERANG1-3型微電路探測器。國內中國電子科技集團第50研究所推出的MCD-1金屬接點探測器，以上幾種金屬結點探測器都是簡單的一收一發模式，功能簡單，靈敏度不夠高，體積大，質量重。