[發明專利]一種新的違規電子設備檢測系統及檢測方法

有效

• 申請號: 201611031116.7
• 申請日: 2016-11-17
• 公開（公告）號: CN106772666B
• 公開（公告）日: 2019-04-09
• 發明（設計）人: 向龍鳳;劉江;樊博宇;肖開奇;夏碧君;曾躍勝
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十九研究所
• 主分類號: G01V9/00
• 分類號: G01V9/00
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 鄧世燕

1.一種新的違規電子設備檢測方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟一、對磁異常信號和諧波信號進行AD量化；

步驟二、對磁異常信號和諧波信號進行預處理及特征提取；

步驟三、利用雙模數據特征融合進行目標檢測：

(1)按如下公式計算二次諧波和三次諧波峰態系數：

其中Y_j為第j個頻點的幅值，為均值，S為標準方差，M為統計頻點個數；

(2)統計各通道二次諧波和三次諧波檢測頻段過門限的點數N2_i和N3_i；

(3)當N2_i或N3_i大于0時，比較二次諧波峰態系數Pk2_i和三次諧波峰態系數Pk3_i：如果Pk2_i>Pk3_i，則給出“該通道存在大量半導體結”的檢測結果，然后進行聲光告警；如果Pk2_i<Pk3_i，則進入第(4)步；

(4)當第i通道的磁異常信號s_i(t)>該通道的磁異常信號檢測門限γ_c,i時，求s_i(t)的自相關系數R_i，當R_i<0.5時，給出“該通道存在疑似鑰匙串物品”的檢測結果；當R_i≥0.5,則進入第(5)步；

(5)如果對稱通道的磁異常信號的自相關系數R_10-i≥0.5，則給出第i通道的判決結果為0；如果R_10-i<0.5時，則給出第i通道的判決結果為1，然后進行聲光告警。

2.根據權利要求1所述的一種新的違規電子設備檢測方法，其特征在于：步驟一所述對磁異常信號和諧波信號進行AD量化的方法為：將整個檢測區域劃分為10個子區域，按一定的掃描順序輪流工作；系統工作時，金屬結或半導體結受到特定頻率的電磁波照射，從而散射出二次諧波信號和三次諧波信號，諧波信號經接收天線進入射頻端接收通道，在接收通道里完成分頻、濾波和下變頻處理后從射頻變換到中頻，然后由FPGA信號處理及控制板進行AD量化變為數字信號；由金屬物品引起的磁異常信號通過磁傳感將模擬信號傳至FPGA信號處理及控制板進行AD量化變為數字信號。

3.根據權利要求1所述的一種新的違規電子設備檢測方法，其特征在于：步驟二所述對磁異常信號和諧波信號進行預處理及特征提取的方法為：

第一，諧波數字信號進入數控板，在數控板內實現濾波、下變頻以及抽取處理，然后做FFT變換，提取二次諧波和三次諧波檢測頻段的能量，留存備用；對磁異常信號進行帶通濾波；

第二，在不存在被檢測物時，采用恒虛警能量檢測器確定各通道的二次諧波和三次諧波檢測門限；根據確定的人體攜帶金屬物品的磁異常范圍，采用恒虛警的方式得出各通道的磁異常信號檢測門限。

4.根據權利要求3所述的一種新的違規電子設備檢測方法，其特征在于：對磁異常信號進行帶通濾波的帶通濾波器通帶范圍為4Hz～10Hz。