[發明專利]一種指紋匹配方法和裝置

在審

• 申請號: 201611028560.3
• 申請日: 2016-11-21
• 公開（公告）號: CN108090396A
• 公開（公告）日: 2018-05-29
• 發明（設計）人: 孫培雙;李軍;李平立;程衛杰
• 申請（專利權）人: 方正國際軟件（北京）有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

本發明實施例涉及通信技術領域，尤其涉及一種指紋匹配方法和裝置，用于準確的得到輸入指紋和模板指紋的細節特征點之間的匹配關系。獲取輸入指紋中的N個輸入特征點中的每個輸入特征點與其余每個輸入特征點之間的相對參數值，得到N個輸入特征點中每個輸入特征點的第一參數集合；將每個輸入特征點的第一參數集合與模板指紋中的模板特征點的第二參數集合進行匹配，確定出M對相匹配的第一參數集合和第二參數集合；進而確定出與N個輸入特征點中每個輸入特征點匹配的模板特征點，得到N對匹配特征點對；根據N對匹配特征點對，確定輸入指紋與模板指紋之間的匹配程度；從而能夠準確的得到輸入指紋和模板指紋的細節特征點之間的匹配關系。

技術領域

本發明實施例涉及通信領域，尤其涉及一種指紋匹配方法和裝置。

背景技術

指紋的唯一性和不變性使得指紋識別成為廣泛應用的生物學識別技術，指紋識別為了確定輸入指紋和模板指紋是否來自同一個手指。指紋識別的步驟主要為：指紋圖像的采集、預處理、特征提取、指紋匹配幾個過程，其中，指紋匹配是根據提取的指紋特征判斷兩枚指紋是否來自同一手指。

一般同一個手指兩次按捺指紋的位置、力量不同，會導致得到的輸入指紋和模板指紋之間發生平移、旋轉等，增加了指紋匹配的難度。通常指紋中的細節特征點包括兩種類型：末梢點和分叉點；通過搜索指紋上的細節特征點，將指紋圖像轉化成由若干個末梢點和分叉點所組成的點集，指紋匹配的問題轉化為尋找點集間的相似度的問題。

現有的指紋匹配的方法主要是基于點模式匹配算法和基于圖論的匹配算法，其中，點模式匹配算法中一般多采用Hough變換來恢復兩枚指紋圖像之間的位置變換，然后將Hough參數空間離散化，從而將原始圖像中檢測給定形狀的曲線問題，變成尋找參數空間中的峰點的問題。這種利用結構或特征匹配方法提取兩個點模式間的變換參數并在Hough空間中累計樣本點?，F有技術中基于點模式的匹配方法，選取少量的細節特征點的參數對輸入指紋和模板指紋進行匹配，對于采集的現場的輸入指紋中細節特征點較多的輸入指紋匹配時，匹配的準確率相對較高；對于只存在少量的細節特征點的輸入指紋，匹配時準確率非常低。

基于圖論的匹配算法，容許一般的變換、位置錯誤、細節點丟失及偽細節點出現，但是這種算法的性能嚴重依賴于脊線特征及外部的指紋配準信息的可信度，完全自動的指紋匹配系統不能一直保證正確脊線特征及外部配準信息的可靠性?？梢?，現有技術中對于少量可利用的細節特征點的輸入指紋與模板指紋進行匹配時，不能準確的得到輸入指紋和模板指紋之間的匹配關系。

發明內容

本發明實施例提供一種指紋匹配方法和裝置，用以準確的得到輸入指紋和模板指紋的細節特征點之間的匹配關系。

本發明實施例提供一種指紋匹配方法，包括：獲取輸入指紋中的N個輸入特征點中的每個輸入特征點與其余每個輸入特征點之間的相對參數值，得到所述N個輸入特征點中每個輸入特征點的第一參數集合；其中，所述N為大于1的整數；將所述每個輸入特征點的第一參數集合與模板指紋中的模板特征點的第二參數集合進行匹配，確定出M對相匹配的第一參數集合和第二參數集合；所述M為大于等于1的整數；其中，所述模板指紋中的每個模板特征點的第二集合中包括該模板特征點與其它模板特征點之間的相對參數值；根據所述M對相匹配的第一參數集合和第二參數集合中的每對相匹配的第一參數集合和第二參數集合，確定出與所述N個輸入特征點中每個輸入特征點匹配的模板特征點，得到每對相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對；根據所述M對相匹配的第一參數集合和第二參數集合中的每對相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對，確定所述輸入指紋與所述模板指紋之間的匹配程度。