[發明專利]一種指紋匹配方法和裝置

在審

• 申請號: 201611028560.3
• 申請日: 2016-11-21
• 公開（公告）號: CN108090396A
• 公開（公告）日: 2018-05-29
• 發明（設計）人: 孫培雙;李軍;李平立;程衛杰
• 申請（專利權）人: 方正國際軟件（北京）有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種指紋匹配方法，其特征在于，包括：

獲取輸入指紋中的N個輸入特征點中的每個輸入特征點與其余每個輸入特征點之間的相對參數值，得到所述N個輸入特征點中每個輸入特征點的第一參數集合；其中，所述N為大于1的整數；

將所述每個輸入特征點的第一參數集合與模板指紋中的模板特征點的第二參數集合進行匹配，確定出M對相匹配的第一參數集合和第二參數集合；所述M為大于等于1的整數；其中，所述模板指紋中的每個模板特征點的第二集合中包括該模板特征點與其它模板特征點之間的相對參數值；

根據所述M對相匹配的第一參數集合和第二參數集合中的每對相匹配的第一參數集合和第二參數集合，確定出與所述N個輸入特征點中每個輸入特征點匹配的模板特征點，得到每對相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對；

根據所述M對相匹配的第一參數集合和第二參數集合中的每對相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對，確定所述輸入指紋與所述模板指紋之間的匹配程度。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述相對參數值包括相對距離和相對角度；

每對相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對滿足以下內容：

第一輸入特征點與第二輸入特征點之間的相對距離，與第一模板特征點與第二模板特征點之間的相對距離的差值小于距離差值閾值；

所述第一輸入特征點與所述第二輸入特征點之間的相對角度，與所述第一模板特征點與所述第二模板特征點之間的相對角度的差值小于角度差值閾值；

其中，所述第一輸入特征點和所述第二輸入特征點為所述N個輸入特征點中的任兩個輸入特征點；所述第一模板特征點和所述第二模板特征點為所述模板指紋中的兩個模板特征點；所述第一輸入特征點與所述第一模板特征點為一對匹配特征點對；所述第二輸入特征點與所述第二模板特征點為一對匹配特征點對。

3.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根據所述M對相匹配的第一參數集合和第二參數集合中的每對相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對，確定所述輸入指紋與所述模板指紋之間的匹配程度，包括：

針對所述M對相匹配的第一參數集合和第二參數集合中的每對相匹配的第一參數集合和第二參數集合，根據所述相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對，對所述輸入指紋和所述模板指紋進行對齊；確定所述相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對中每對匹配特征點對中輸入特征點和模板特征點之間的剩余殘差；

根據所述M對相匹配的第一參數集合和第二參數集合中的每對相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對中每對匹配特征點對的相對參數值和剩余殘差，確定所述輸入指紋與所述模板指紋之間的匹配程度。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對，對所述輸入指紋和所述模板指紋進行對齊，包括：

根據映射殘方差算法，計算所述相匹配的第一參數集合和第二參數集合對應的N對匹配特征點對之間的坐標映射關系；

根據所述N對匹配特征點對之間的坐標映射關系，確定所述輸入指紋和所述模板指紋之間的變換參數；

根據所述變換參數，對所述輸入指紋和所述模板指紋進行對齊。