[發明專利]應用于SARADC中的PIP電容陣列的電壓系數校準方法

有效

• 申請號: 201610986709.2
• 申請日: 2016-11-09
• 公開（公告）號: CN106788436B
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發明（設計）人: 王全;馬洋;楊磊;王銘義;何進川
• 申請（專利權）人: 上海芯圣電子股份有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10;H03M1/46
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種應用于SARADC中的PIP電容陣列的電壓系數校準方法，所述方法為：在PIP電容陣列中加入誤差，用于抵消電壓系數所帶來的誤差，完成PIP電容電壓系數校準；

所述在PIP電容陣列中加入誤差包括：

獲取電壓系數對PIP電容陣列帶來的誤差，根據該誤差對PIP電容陣列中部分電容的大小進行調整；

其特征在于，獲取電壓系數對PIP電容陣列帶來的誤差的方法為：

獲取SARADC中PIP電容陣列的電壓參數；

PIP電容陣列從SARADC的采樣階段到轉換階段，根據電壓參數，獲取在轉換階段PIP電容陣列兩端電壓差，PIP電容陣列包括第一類電容和第二類電容；第一類電容在轉換階段的第一個周期接基準電壓；第二類電容在轉換階段的第一個周期接地；

根據第一類電容兩端電壓差和第二類電容兩端電壓差，獲取第一類電容和第二類電容的電容變化后的電容值；

根據第一類電容和第二類電容變化后的電容值，獲取電壓系數對PIP電容陣列帶來的誤差。

2.根據權利要求1所述的應用于SARADC中的PIP電容陣列的電壓系數校準方法，其特征在于，在PIP電容陣列中加入誤差的方法為：

減小第一類電容的電容值或增大第二類電容的電容值。

3.根據權利要求1所述的應用于SARADC中的PIP電容陣列的電壓系數校準方法，其特征在于，在PIP電容陣列中加入誤差的方法為：

當第一類電容數量與第二類電容數量相等時，將第一類電容的電容值從初始電容值變為第二類電容變化后的電容值，第二類電容的電容值不變。

4.根據權利要求1所述的應用于SARADC中的PIP電容陣列的電壓系數校準方法，其特征在于，PIP電容陣列的電壓參數包括：PIP電容一端連接的基準電壓VREF，PIP電容一端連接的輸入電壓VIN，PIP電容另一端連接的電源正極輸入電壓VPOS，PIP電容的一階電壓系數VC1，PIP電容的二階電壓系數VC2，所述第一類電容與第二類電容的數目相同。

5.根據權利要求1所述的應用于SARADC中的PIP電容陣列的電壓系數校準方法，其特征在于，所述部分電容表示工作在同一周期且壓差相同的電容。