[發明專利]依據測試粒度決定存儲器測試覆蓋率的系統及其方法

在審

• 申請號: 201610981529.5
• 申請日: 2016-11-08
• 公開（公告）號: CN108074623A
• 公開（公告）日: 2018-05-25
• 發明（設計）人: 李巖
• 申請（專利權）人: 英業達科技有限公司;英業達股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 王中

本發明公開一種依據測試粒度決定存儲器測試覆蓋率的系統及其方法，其通過依據測試粒度產生存儲器定址序列后，將所產生的存儲器定址序列轉換為相對應的物理地址，并依據所產生的物理地址對存儲器的全部或部分進行測試的技術手段，可以有效控制存儲器的測試覆蓋率，并達成提高存儲器測試效率的技術功效。

技術領域

本發明涉及一種存儲器測試系統及其方法，特別系指一種依據測試粒度決定存儲器測試覆蓋率的系統及其方法。

背景技術

在系統整合測試的存儲器測試中，一直以來都難以取舍平衡的兩個方向就是測試效率與測試覆蓋率。目前的服務器系統動輒TB量級的存儲器負載使得當需要滿足測試覆蓋率的需求的時候，測試效率就會變得非常低下。這樣的測試效率在服務器大量線上出貨的時候是無法被接受的。

為了增加測試效率，只能選擇降低測試覆蓋率。目前的測試方案大多只能提供使用者選擇測試全部負載的存儲器的百分比。然而，由于目前的測試方案都是對操作系統隨機配置的存儲器進行測試，缺少了科學合理的存儲器測試的針對性，測試覆蓋率往往無法得到保證，讓測試覆蓋率成為一個非常模糊和隨機的指標，為系統埋下安全隱患。

綜上所述，可知現有技術中長期以來一直存在使用隨機配置存儲器的測試方式無法保證測試覆蓋率的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。

發明內容

有鑒于現有技術存在使用隨機配置存儲器的測試方式無法保證測試覆蓋率的問題，本發明遂揭露一種依據測試粒度決定存儲器測試覆蓋率的系統及其方法，其中：

本發明所揭露的依據測試粒度決定存儲器測試覆蓋率的系統，應用于安裝至少一存儲器模塊的計算機中，該系統至少包含：輸入模塊，用以提供選擇測試粒度；序列產生模塊，用以依據測試粒度產生存儲器定址(DRAM Address)序列；地址轉換模塊，用以轉換存儲器定址序列為相對應的物理地址；測試模塊，用以依據該物理地址對存儲器模塊進行測試。

本發明所揭露的依據測試粒度決定存儲器測試覆蓋率的方法，應用于安裝至少一存儲器模塊的計算機中，其步驟至少包括：選擇測試粒度；依據測試粒度產生存儲器定址序列；轉換存儲器定址序列為相對應的物理地址；依據物理地址對存儲器模塊進行測試。

本發明所揭露的系統與方法如上，與現有技術之間的差異在于本發明通過依據測試粒度產生存儲器定址序列后，將所產生的存儲器定址序列轉換為相對應的物理地址，并依據所產生的物理地址進行測試，藉以解決現有技術所存在的問題，并可以達成提高存儲器測試效率的技術功效。

附圖說明

圖1為本發明所提的依據測試粒度決定存儲器測試覆蓋率的系統架構圖。

圖2為本發明所提的依據測試粒度決定存儲器測試覆蓋率的方法流程圖。

【符號說明】

100 計算機

101 存儲器模塊

110 輸入模塊

120 序列產生模塊

130 地址轉換模塊

140 測試模塊

具體實施方式

以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明的特征與實施方式，內容足以使任何本領域技術人員能夠輕易地充分理解本發明解決技術問題所應用的技術手段并據以實施，藉此實現本發明可達成的功效。

本發明可以依據設定的測試粒度產生存儲器定址(DRAM Address)序列，并在轉換存儲器定址序列為相對應的物理地址(physical Address)后，依據轉換產生的物理地址對存儲器模塊進行不同測試覆蓋率的測試。