[發(fā)明專利]依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的系統(tǒng)及其方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610981529.5
• 申請(qǐng)日: 2016-11-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108074623A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-05-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李巖
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)科技有限公司;英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/56
• 分類號(hào): G11C29/56
• 代理公司: 北京國(guó)昊天誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315
• 代理人: 王中

1.一種依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的方法，應(yīng)用于一計(jì)算機(jī)，該計(jì)算機(jī)安裝至少一存儲(chǔ)器模塊，其特征在于，該方法至少包含下列步驟：

選擇一測(cè)試粒度；

依據(jù)該測(cè)試粒度產(chǎn)生至少一存儲(chǔ)器定址序列；

轉(zhuǎn)換各該存儲(chǔ)器定址序列為相對(duì)應(yīng)的各物理地址；及

依據(jù)各該物理地址對(duì)各該存儲(chǔ)器模塊進(jìn)行測(cè)試。

2.如權(quán)利要求1所述的依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的方法，其特征在于，轉(zhuǎn)換各該存儲(chǔ)器定址序列為相對(duì)應(yīng)的各物理地址的步驟為依據(jù)各該存儲(chǔ)器定址序列所包含的插槽識(shí)別碼、存儲(chǔ)器控制器識(shí)別碼、存儲(chǔ)器通道識(shí)別碼、存儲(chǔ)器模塊識(shí)別碼、存儲(chǔ)芯片區(qū)塊識(shí)別碼判斷出各該物理地址范圍。

3.如權(quán)利要求1所述的依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的方法，其特征在于，選擇該測(cè)試粒度的步驟為選擇對(duì)所有存儲(chǔ)器模塊、所有存儲(chǔ)芯片區(qū)塊、所有存儲(chǔ)電路組、選擇線、或數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。

4.如權(quán)利要求1所述的依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的方法，其特征在于，依據(jù)該各該物理地址對(duì)各該存儲(chǔ)器模塊進(jìn)行測(cè)試的步驟為使用至少一測(cè)試演算法對(duì)各該物理地址測(cè)試一個(gè)通訊周期。

5.如權(quán)利要求1所述的依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的方法，其特征在于，該方法于依據(jù)該各該物理地址對(duì)各該存儲(chǔ)器模塊進(jìn)行測(cè)試的步驟后，更包含產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的測(cè)試報(bào)告的步驟。

6.一種依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的系統(tǒng)，應(yīng)用于一計(jì)算機(jī)，該計(jì)算機(jī)安裝至少一存儲(chǔ)器模塊，其特征在于，該系統(tǒng)至少包含：

一輸入模塊，用以提供選擇一測(cè)試粒度；

一序列產(chǎn)生模塊，用以依據(jù)該測(cè)試粒度產(chǎn)生至少一存儲(chǔ)器定址序列；

一地址轉(zhuǎn)換模塊，用以轉(zhuǎn)換各該存儲(chǔ)器定址序列為相對(duì)應(yīng)的各物理地址；及

一測(cè)試模塊，用以依據(jù)該各該物理地址對(duì)各該存儲(chǔ)器模塊進(jìn)行測(cè)試。

7.如權(quán)利要求6所述的依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的系統(tǒng)，其特征在于，該地址轉(zhuǎn)換模塊為依據(jù)各該存儲(chǔ)器定址序列所包含的插槽識(shí)別碼、存儲(chǔ)器控制器識(shí)別碼、存儲(chǔ)器通道識(shí)別碼、存儲(chǔ)器模塊識(shí)別碼、存儲(chǔ)芯片區(qū)塊識(shí)別碼判斷出各該物理地址范圍。

8.如權(quán)利要求6所述的依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的系統(tǒng)，其特征在于，該輸入模塊是提供選擇對(duì)所有存儲(chǔ)器模塊、所有存儲(chǔ)芯片區(qū)塊、所有存儲(chǔ)電路組、選擇線、或數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。

9.如權(quán)利要求6所述的依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的系統(tǒng)，其特征在于，該測(cè)試模塊是使用至少一測(cè)試演算法對(duì)各該物理地址測(cè)試一個(gè)通訊周期。

10.如權(quán)利要求6所述的依據(jù)測(cè)試粒度決定存儲(chǔ)器測(cè)試覆蓋率的系統(tǒng)，其特征在于，該測(cè)試模塊更用以產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的測(cè)試報(bào)告。