[發(fā)明專利]一種集成電路測試的方法和裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610976506.5
• 申請日: 2016-10-28
• 公開（公告）號: CN108020769A
• 公開（公告）日: 2018-05-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孫建偉;楊麗寧;胡安穩(wěn)
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市中興微電子技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270
• 代理人: 賈偉;張穎玲

本發(fā)明實(shí)施例公開了一種集成電路測試的方法，包括：從集成電路M個待檢測節(jié)點(diǎn)中選擇N個節(jié)點(diǎn)；M和N均為大于0的整數(shù)；實(shí)時采集所選擇的N個節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)，分析后得出集成電路的測試結(jié)果；或者，通過預(yù)設(shè)的檢測方式檢測每個選擇的節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)，得到對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果，在任意一個節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果為異常時，控制采集對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)，分析異常節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果和數(shù)據(jù)，確定所述集成電路的故障狀態(tài)。本發(fā)明實(shí)施例還公開了一種集成電路測試的裝置。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種集成電路測試的方法和裝置。

背景技術(shù)

目前傳統(tǒng)的集成電路測試大多為板級測試，常用的板級測試有兩種，第一種：利用現(xiàn)場可編程門陣列(Field Programmable Gate Array，F(xiàn)PGA)從集成電路管腳進(jìn)行激勵輸入，然后采集集成電路管腳輸出，并將輸出結(jié)果在上位機(jī)上進(jìn)行數(shù)據(jù)比對，判斷是否通過用例；第二種：利用集成電路測試儀器對集成電路進(jìn)行測試。

第一種傳統(tǒng)測試方式缺點(diǎn)在于，集成電路管腳有限，內(nèi)部可視度不高，一旦待測試的集成電路沒有通過用例，就要進(jìn)行用例仿真，以便確定待測試集成電路故障原因，因此故障定位周期長。

第二種傳統(tǒng)測試方式缺點(diǎn)在于，在利用集成電路儀器測試時，每次測試都要搭建硬件環(huán)境，對測試的人員和設(shè)備依賴性高，人員不在工位或設(shè)備不齊全都會造成時間的浪費(fèi)。

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例期望提供一種集成電路測試的方法和裝置，可減少仿真配合和對大量測試儀器的依賴性，快速定位集成電路故障位置，從而及時解決故障，加快商用進(jìn)度。

本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的：

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種集成電路測試的方法，包括：

從集成電路M個待檢測節(jié)點(diǎn)中選擇N個節(jié)點(diǎn)；M和N均為大于0的整數(shù)；

實(shí)時采集所選擇的N個節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)，通過分析所述N個節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)，得出所述集成電路的測試結(jié)果；

或者，通過預(yù)設(shè)的檢測方式檢測每個選擇的節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)，得到對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果，在任意一個節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果為異常時，確定對應(yīng)節(jié)點(diǎn)為異常節(jié)點(diǎn)，并生成觸發(fā)信號，以觸發(fā)開始采集對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)；通過分析所述異常節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果和數(shù)據(jù)，確定所述集成電路的故障狀態(tài)；

或者，實(shí)時采集所選擇的N個節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)，通過預(yù)設(shè)的檢測方式檢測每個選擇的節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)，得到對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果，在任意一個節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果為異常時，確定對應(yīng)節(jié)點(diǎn)為異常節(jié)點(diǎn)，并生成觸發(fā)信號，以觸發(fā)停止采集對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)；通過分析所述異常節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果和數(shù)據(jù)，確定所述集成電路的故障狀態(tài)。

上述方案中，所述預(yù)設(shè)的檢測方式包括：功率檢測、時延檢測、任務(wù)量檢測、或流量檢測。

上述方案中，在任意一個節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果為異常時，生成觸發(fā)信號，包括：

通過功率檢測確定任意一個節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)功率異常時，確定對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果為異常，生成功率異常指示信號；

或者，通過時延檢測確定任意一個節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)時延異常時，確定對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果為異常，生成時延異常指示信號；

或者，通過任務(wù)量檢測確定任意一個節(jié)點(diǎn)的任務(wù)量異常時，確定對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果為異常，生成任務(wù)量異常指示信號；

或者，通過流量檢測確定任意一個節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)流量異常時，確定對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的檢測結(jié)果為異常，生成流量異常指示信號；

將所述功率異常指示信號、時延異常指示信號、任務(wù)量異常指示信號、或流量異常指示信號確定為觸發(fā)信號。

上述方案中，所述開始采集對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)包括：立即開始采集對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)、或經(jīng)過預(yù)設(shè)的延時時間后開始采集對應(yīng)節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)；