[發明專利]一種集成電路測試的方法和裝置在審
| 申請號: | 201610976506.5 | 申請日: | 2016-10-28 |
| 公開(公告)號: | CN108020769A | 公開(公告)日: | 2018-05-11 |
| 發明(設計)人: | 孫建偉;楊麗寧;胡安穩 | 申請(專利權)人: | 深圳市中興微電子技術有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270 | 代理人: | 賈偉;張穎玲 |
| 地址: | 518055 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 集成電路 測試 方法 裝置 | ||
1.一種集成電路測試的方法,其特征在于,所述方法包括:
從集成電路M個待檢測節點中選擇N個節點;M和N均為大于0的整數;
實時采集所選擇的N個節點的數據,通過分析所述N個節點的數據,得出所述集成電路的測試結果;
或者,通過預設的檢測方式檢測每個選擇的節點的數據,得到對應節點的檢測結果,在任意一個節點的檢測結果為異常時,確定對應節點為異常節點,并生成觸發信號,以觸發開始采集對應節點的數據;通過分析所述異常節點的檢測結果和數據,確定所述集成電路的故障狀態;
或者,實時采集所選擇的N個節點的數據,通過預設的檢測方式檢測每個選擇的節點的數據,得到對應節點的檢測結果,在任意一個節點的檢測結果為異常時,確定對應節點為異常節點,并生成觸發信號,以觸發停止采集對應節點的數據;通過分析所述異常節點的檢測結果和數據,確定所述集成電路的故障狀態。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述預設的檢測方式包括:功率檢測、時延檢測、任務量檢測、或流量檢測。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,在任意一個節點的檢測結果為異常時,生成觸發信號,包括:
通過功率檢測確定任意一個節點的數據功率異常時,確定對應節點的檢測結果為異常,生成功率異常指示信號;
或者,通過時延檢測確定任意一個節點的數據時延異常時,確定對應節點的檢測結果為異常,生成時延異常指示信號;
或者,通過任務量檢測確定任意一個節點的任務量異常時,確定對應節點的檢測結果為異常,生成任務量異常指示信號;
或者,通過流量檢測確定任意一個節點的數據流量異常時,確定對應節點的檢測結果為異常,生成流量異常指示信號;
將所述功率異常指示信號、時延異常指示信號、任務量異常指示信號、或流量異常指示信號確定為觸發信號。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述開始采集對應節點的數據包括:立即開始采集對應節點的數據、或經過預設的延時時間后開始采集對應節點的數據;
所述停止采集對應節點的數據包括:立即停止采集對應節點的數據、或經過預設的延時時間后停止采集對應節點的數據。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:配置數據采集方式;
所述數據采集方式為:采集節點的有效數據,或按節點工作時鐘采集節點的數據;所述節點的有效數據為:節點的數據中有效標志位為1的數據。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述從集成電路M個待檢測節點中選擇N個節點,包括:通過軟件配置在所述M個待檢測節點中選擇N個節點。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在通過分析所述N個節點的數據,得出所述集成電路的測試結果之前,所述方法還包括:將所選擇的每個節點的數據保存到第一存儲單元;
在觸發開始采集對應節點的數據,或觸發停止采集對應節點的數據之后,所述方法還包括:將所述異常節點的數據保存到第一存儲單元。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:所選擇的任意一個節點的數據量大于所述第一存儲單元存儲上限值時,將對應節點的數據通過乒乓存儲實時傳遞到第二存儲單元;
或者,任意一個異常節點的數據量大于所述第一存儲單元存儲上限值時,將對應異常節點的數據通過乒乓存儲實時傳遞到所述第二存儲單元;所述第二存儲單元的存儲容量大于所述第一存儲單元的存儲容量。
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