[發明專利]一種坑區域的定位方法及裝置

有效

• 申請號: 201610950780.5
• 申請日: 2016-10-26
• 公開（公告）號: CN107993233B
• 公開（公告）日: 2022-02-22
• 發明（設計）人: 孟令江;歐勇盛;呂琴;江國來;王志揚;馮偉
• 申請（專利權）人: 中國科學院深圳先進技術研究院
• 主分類號: G06T7/11
• 分類號: G06T7/11;G06T7/136;G06T7/30;G06T7/70;G06T7/60;G06T5/00
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

1.一種坑區域的定位方法，其特征在于，所述方法包括：

檢測雙目相機針對當前環境所拍攝的左、右圖像中的坑區域；

獲取所述左圖像中坑區域與所述右圖像中坑區域的對應關系，所述左圖像中坑區域與所述右圖像中對應坑區域表征所述當前環境中的同一坑區域；

從所述左圖像中按照預設尺寸截取坑區域，從所述右圖像中按照預設尺寸截取對應坑區域，其中，該預設尺寸截取的區域需包括坑區域和擴展的預設像素，獲取從左圖像中截取的坑區域以及從右圖像中截取的坑區域的視差圖，獲取從視差圖的坑區域位置向左右兩邊所取的兩個區域的第一視差值d₁、第二視差值d₂，以及視差圖中坑區域的第三視差值d₃，根據公式分別計算視差圖的坑區域位置向左邊所取的區域在實際拍攝環境中與雙目相機的距離Z₁、視差圖的坑區域位置向右邊所取的區域在實際拍攝環境中與雙目相機的距離Z₂，以及視差圖中坑區域在實際拍攝環境中與雙目相機的距離Z₃，如果所取兩個區域在實際拍攝環境中與雙目相機的距離小于視差圖中坑區域在實際拍攝環境中與雙目相機的距離，則確定該坑區域為真實的坑區域；其中，i取值分別為1,2,3；

獲取所述左圖像中坑區域與所述右圖像中對應坑區域的視差值；

根據所述左圖像中坑區域與所述右圖像中對應坑區域的視差值，對所述當前環境中的同一坑區域進行定位，包括：依據關系式y₁＝-0.00937x₁+68.59確定實際寬度為預設實際寬度y₂的所述當前環境中的同一坑區域在該距離Z下對應的像素寬度y₁，其中，x₁為坑區域與雙目相機的距離Z；

獲取所述左圖像中坑區域在所述左圖像中的像素寬度w_pixel；

根據所述左圖像中坑區域在所述左圖像中的像素寬度w_pixel、預設實際寬度y₂以及實際寬度為預設實際寬度y₂的所述當前環境中同一坑區域在該距離Z下對應的像素寬度y₁，計算所述當前環境中的同一坑區域的實際寬度

獲取所述左圖像中坑區域的偏移像素數h；

根據所述左圖像中坑區域的偏移像素數h、所述當前環境中同一坑區域的實際寬度w_real以及所述左圖像中坑區域在所述左圖像中的像素寬度w_pixel，計算所述當前環境中的同一坑區域的實際偏移量

根據所述當前環境中的同一坑區域的實際偏移量g和所述當前環境中的同一坑區域與所述雙目相機的距離Z，計算所述當前環境中的同一坑區域與所述雙目相機中左相機的方位角α＝arctan(g/Z)。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述左圖像中坑區域與所述右圖像中對應坑區域的視差值包括：

獲取所述左圖像中坑區域中像素與所述右圖像中對應坑區域中像素的匹配關系；

根據所述左圖像中坑區域中像素與所述右圖像中對應坑區域中像素的匹配關系，獲取所述左圖像中坑區域與所述右圖像中對應坑區域的視差值。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述左圖像中坑區域中像素與所述右圖像中對應坑區域中像素的匹配關系，獲取所述左圖像中坑區域與所述右圖像中對應坑區域的視差值包括：

獲取所述左圖像中坑區域中像素與所述右圖像中對應坑區域中相匹配的像素的視差值；

根據所述左圖像中坑區域中像素與所述右圖像中對應坑區域中相匹配的像素的視差值，獲取所述左圖像中坑區域與所述右圖像中對應坑區域的視差值。

4.根據權利要求1至3任一項所述的方法，其特征在于，所述根據所述左圖像中坑區域與所述右圖像中對應坑區域的視差值，對所述當前環境中的同一坑區域進行定位包括：

根據所述左圖像中坑區域與所述右圖像中對應坑區域的視差值，計算所述當前環境中的同一坑區域與所述雙目相機的距離、所述當前環境中的同一坑區域的實際寬度以及所述當前環境中的同一坑區域與所述雙目相機中左相機的方位角。