[發(fā)明專利]一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石SiO2含量的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610928947.8 | 申請日: | 2016-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN108020321B | 公開(公告)日: | 2019-10-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王俊虎;杜錦錦 | 申請(專利權(quán))人: | 核工業(yè)北京地質(zhì)研究院 |
| 主分類號: | G01J5/00 | 分類號: | G01J5/00;G01N21/3563 |
| 代理公司: | 核工業(yè)專利中心 11007 | 代理人: | 高尚梅 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 發(fā)射 光譜 指數(shù) 模型 定量 反演 巖石 sio base sub | ||
本發(fā)明屬于一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石SiO2含量的方法,具體包括:一、巖石發(fā)射率光譜測量,獲取巖石樣本發(fā)射率曲線;二、巖石樣品SiO2含量室內(nèi)定量化學(xué)分析;三、表征巖石SiO2含量診斷波長選取和光譜指數(shù)構(gòu)建;四、構(gòu)建巖石樣品SiO2含量發(fā)射率光譜指數(shù)定量反演模型;五、巖石樣品SiO2含量定量反演模型精度評價。通過主觀和客觀評價得出該模型反演精度優(yōu)于90%,可用于野外快速準(zhǔn)確的識別巖石SiO2含量,大大降低了巖石SiO2含量室內(nèi)化學(xué)分析的時間和經(jīng)濟(jì)成本,這對加快與硅化、石英脈相關(guān)的礦產(chǎn)勘查進(jìn)度具有重要的推動意義。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于遙感信息提取及定量反演領(lǐng)域,具體涉及一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石SiO2含量的方法。
背景技術(shù)
熱紅外波段(8.00μm~14.00μm)在巖礦識別中具有獨到的優(yōu)勢,不僅可識別硅酸鹽、硫酸鹽、碳酸鹽、磷酸鹽、氫氧化物等造巖礦物,更可識別常用的可見光(0.38μm~0.76μm)-短波紅外波段(0.76μm-3.00μm)不能識別的石英(化學(xué)分子式為SiO2)等礦物。而在自然界中,許多礦體以石英脈的形式產(chǎn)出,礦石中常有石英脈石伴生,硅化巖和硅化帶(熱液蝕變作用形成的富二氧化硅類巖石)亦是銅、鉬、鈾等金屬及螢石、明礬石等非金屬礦產(chǎn)出的重要找礦標(biāo)志。因此,自然界巖石SiO2含量的定量反演(識別)可以快速識別硅化、石英脈等富硅巖類,對礦產(chǎn)勘查具有重要的指導(dǎo)意義。
現(xiàn)今,國內(nèi)外學(xué)者大多基于ASTER等衛(wèi)星數(shù)據(jù)或標(biāo)準(zhǔn)光譜庫對地表SiO2含量的反演開展了基礎(chǔ)性研究。如Hunt和Salisbury研究發(fā)現(xiàn)巖漿巖的發(fā)射率光譜特征與SiO2含量具有顯著的相關(guān)性;Ninomiya等和閆柏琨等基于ASTER衛(wèi)星數(shù)據(jù)開展巖石SiO2含量定量反演,提出了可以定性表征SiO2含量的光譜指數(shù)。閆柏琨等和楊長保等以標(biāo)準(zhǔn)光譜庫(實驗室條件下獲取的巖石光譜數(shù)據(jù)庫)為數(shù)據(jù)源,對巖石中礦物的成分和含量與發(fā)射率光譜特征的相關(guān)性進(jìn)行研究,并建立了回歸模型,對特定地區(qū)或特定巖類進(jìn)行SiO2含量定量反演。雖然上述研究取得了一定的應(yīng)用效果,但衛(wèi)星遙感影像較低的空間和光譜分辨率大大限制了SiO2含量的反演精度;而利用標(biāo)準(zhǔn)光譜庫進(jìn)行SiO2定量含量反演則比較理想化,不符合野外實際情況。
因此,為了提高巖石SiO2含量識別效果和降低室內(nèi)化學(xué)分析成本,針對現(xiàn)有SiO2含量定量反演方法存在的各種缺陷,必須開發(fā)一種光譜分辨率高且為現(xiàn)場實測熱紅外光譜數(shù)據(jù)的巖石SiO2含量定量反演方法,并基于實測化學(xué)分析數(shù)據(jù)驗證模型反演精度,保證反演模型的實用性,為基于航空/航天熱紅外遙感數(shù)據(jù)大范圍快速識別富硅類巖石奠定基礎(chǔ),為指導(dǎo)野外礦產(chǎn)勘查提供支撐。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石SiO2含量的方法,可大大降低地表巖石SiO2含量定量分析成本和分析時間。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石 SiO2含量的方法,包括如下步驟:
步驟一、巖石發(fā)射率光譜測量;選用野外采集的若干個巖石樣本,對每一個巖石樣本均進(jìn)行熱紅外輻亮度測量,并進(jìn)行發(fā)射率分離,獲得所有巖石樣本的發(fā)射率曲線;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于核工業(yè)北京地質(zhì)研究院,未經(jīng)核工業(yè)北京地質(zhì)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610928947.8/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





