[發(fā)明專利]一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石SiO2含量的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610928947.8
• 申請日: 2016-10-31
• 公開（公告）號: CN108020321B
• 公開（公告）日: 2019-10-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王俊虎;杜錦錦
• 申請（專利權(quán)）人: 核工業(yè)北京地質(zhì)研究院
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00;G01N21/3563
• 代理公司: 核工業(yè)專利中心 11007
• 代理人: 高尚梅

1.一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石SiO₂含量的方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟一、巖石發(fā)射率光譜測量；選用野外采集的若干個巖石樣本，對每一個巖石樣本均進行熱紅外輻亮度測量，并進行發(fā)射率分離，獲得所有巖石樣本的發(fā)射率曲線；

步驟二、巖石樣品SiO₂含量室內(nèi)定量化學分析；對巖石樣本進行SiO₂含量和燒失量百分比分析，用巖石樣本SiO₂含量百分比減去燒失量百分比即巖石樣本的真實SiO₂含量，剔除SiO₂含量低的巖石樣本，剩余巖石樣本組成樣本集；

步驟三、表征巖石SiO₂含量診斷波長選取和光譜指數(shù)構(gòu)建；在巖石樣本集的發(fā)射率曲線中，從12.25～13.2μm波長區(qū)間內(nèi)，選取第2個特征發(fā)射谷對應的波長λ₁和第一個特征發(fā)射峰對應的波長λ₂，獲取每一個樣品λ₁波段對應的發(fā)射率ε_m1和λ₂波段對應的ε_m2，計算每個巖石樣本的SiO₂光譜指數(shù)X_m；

步驟四、巖石樣品SiO₂含量定量反演模型構(gòu)建；基于二分之一巖石樣本集巖石的SiO₂光譜指數(shù)X_m，及其巖石樣本的真實SiO₂含量，運用統(tǒng)計學原理，構(gòu)建發(fā)射率光譜指數(shù)模型即SiO₂含量定量反演模型；

步驟五、巖石樣品SiO₂含量定量反演模型精度評價；以剩余二分之一巖石樣品集的巖石樣本SiO₂光譜指數(shù)X_m為變量，代入上述反演模型，得到樣品集每一個巖石樣本的SiO₂反演含量；通過對每一個樣本的SiO₂反演含量與真實含量統(tǒng)計分析得出，發(fā)射率光譜指數(shù)模型的平均反演精度高于90％，為有效反演模型。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石SiO₂含量的方法，其特征在于：所述步驟二，剔除SiO₂含量百分比低指百分比小于65％的巖石樣本。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石SiO₂含量的方法，其特征在于：所述的步驟三的特征波段的波長λ₁＝12.6265μm，λ₂＝12.8117μm。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石SiO₂含量的方法，其特征在于：所述的步驟三SiO₂光譜指數(shù)計算公式為X_m＝ε_m1/ε_m2,X_m為編號為m的巖石樣本SiO₂光譜指數(shù)，ε_m1為編號為m的巖石樣本波長為λ₁＝12.6265μm處的發(fā)射率值，ε_m2為編號為m的巖石樣本波長為λ₂＝12.8117μm處的發(fā)射率值。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于發(fā)射率光譜指數(shù)模型定量反演巖石SiO₂含量的方法，其特征在于：所述步驟四的發(fā)射率光譜指數(shù)模型為Y_m＝-5475.027+10331.575X_m-4786.819X_m²，Y_m為編號為m的巖石樣本反演的SiO₂含量值，X_m為編號為m的巖石樣本SiO₂光譜指數(shù)。