[發明專利]成像方法和成像系統

有效

• 申請號: 201610925903.X
• 申請日: 2016-10-24
• 公開（公告）號: CN107970037B
• 公開（公告）日: 2021-01-05
• 發明（設計）人: 梁國棟;吳國城;李楠;趙健
• 申請（專利權）人: 上海東軟醫療科技有限公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03;A61B6/00
• 代理公司: 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415
• 代理人: 林祥

本申請提供一種成像方法。該成像方法包括：確定探測器模塊的每一個晶體單元的若干深度位置對應的參照能量權重因子；接收所述探測器模塊產生的單事件信號；根據所述單事件信號確定產生最大單事件信號的被擊中的晶體單元和所述被擊中的晶體單元所對應的實際能量權重因子；根據所述深度位置對應的參照能量權重因子確定所述實際能量權重因子所對應的被擊中的晶體單元的實際深度位置來獲得單事件在所述探測器模塊內的作用位置；根據符合事件的兩個單事件在所述探測器模塊內的作用位置確定符合線；及根據多條符合線重建圖像。本申請還公開一種成像系統。

技術領域

本申請涉及一種成像方法和成像系統，尤其涉及一種正電子發射斷層掃描的成像方法和系統。

背景技術

正電子發射斷層掃描(Positron Emission Computed Tomography，簡稱PET)系統是生物學、生理學以及認知學不可缺少的影像設備，將成為分子影像的新武器。PET的主要工作原理是：將放射性核素注入體內，放射性核素在體內發生衰變，釋放出正電子，正電子與體內的負電子發生湮滅，從而生成沿直線方向上、方向相反的兩個γ光子。兩個γ光子被位于相對位置的兩個探測器模塊在一定時間范圍內接收。符合處理單元對該對γ光子做符合判定，并確定兩個γ光子入射到晶體的位置，從而通過符合線(或稱作符合響應線)的方式確定γ光子在空間中的位置。成像單元將符合線的信息反推來重建圖像。

然而，隨著技術的不斷發展，高空間分辨率和低成本一直是制造商的研發目標。而現階段的PET的探測器系統一般為環狀結構，若是湮滅事件發生在檢測器環的中心位置，一對γ光子總是沿著直線方向、方向相反的入射到一對晶體單元內，且γ射線與晶體單元的入射面始終是垂直的，因此，γ光子幾乎沒有機會穿透到其它晶體單元內。相對的晶體單元之間形成的符合線與γ射線的實際路徑一致，因此，該符合線所反映的位置信息是正確的。然而，若是湮滅位置不在檢測器環的中心位置，即γ射線與晶體單元的入射面成一個角度，則γ射線由于斜入射到晶體單元內，從而有可能進入到相鄰的晶體單元或者在入射到的第一個晶體單元產生康普頓散射后與相鄰晶體單元產生相互作用。這些作用就會導致形成的符合線與γ射線的實際路徑不一致，與真實湮滅的位置存在一定的視差，從而導致重建圖像的不理想以及圖像分辨率的下降。尤其是，越遠離探測器環的中心，這種現象越顯著。

發明內容

有鑒于此，本申請的一個方面提供一種成像方法。該成像方法包括：確定探測器模塊的每一個晶體單元的若干深度位置對應的參照能量權重因子；接收所述探測器模塊產生的單事件信號；根據所述單事件信號確定產生最大單事件信號的被擊中的晶體單元和所述被擊中的晶體單元所對應的實際能量權重因子；根據所述深度位置對應的參照能量權重因子確定所述實際能量權重因子所對應的被擊中的晶體單元的實際深度位置來獲得單事件在所述探測器模塊內的作用位置；根據符合事件的兩個單事件在所述探測器模塊內的作用位置確定符合線；及根據多條符合線重建圖像。

本申請的另一個方面提供一種成像系統。該成像系統包括：探測器模塊，包括若干晶體單元；確定單元，用來確定所述探測器的每一個晶體的若干深度位置對應的參照能量權重因子；處理單元，用來接收所述探測器模塊產生的單事件信號，根據所述單事件信號確定產生最大單事件信號的被擊中的晶體單元和所述被擊中的晶體單元所對應的實際能量權重因子，根據所述深度位置對應的參照能量權重因子確定所述實際能量權重因子所對應的被擊中的晶體單元的實際深度位置來獲得單事件在所述探測器模塊內的作用位置，且根據符合事件的兩個單事件在所述探測器內的作用位置確定符合線；及圖像重建單元，用來根據多條符合線重建圖像。

附圖說明

圖1是一次正電子湮滅事件的示意圖；

圖2是本申請PET系統的探測裝置的一個實施例的示意圖；

圖3是本申請探測器裝置的一個探測器模塊的一個實施例的示意圖；

圖4是本申請成像方法的一個實施例的流程圖；及