[發明專利]成像方法和成像系統有效
| 申請號： | 201610925903.X | 申請日： | 2016-10-24 |
| 公開（公告）號： | CN107970037B | 公開（公告）日： | 2021-01-05 |
| 發明（設計）人： | 梁國棟;吳國城;李楠;趙健 | 申請（專利權）人： | 上海東軟醫療科技有限公司 |
| 主分類號： | A61B6/03 | 分類號： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415 | 代理人： | 林祥 |
| 地址： | 200241 上海市閔*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 成像 方法 系統 | ||
1.一種成像方法，其特征在于：其包括：
確定探測器模塊的每一個晶體單元的若干深度位置對應的參照能量權重因子，其中，所述確定參照能量權重因子的步驟包括：獲取所述晶體單元在深度位置上輸出的最大能量和所述探測器模塊輸出的總能量，且根據所述最大能量和所述總能量確定該深度位置對應的參照能量權重因子；
接收所述探測器模塊產生的單事件信號；
根據所述單事件信號確定產生最大單事件信號的被擊中的晶體單元和所述被擊中的晶體單元所對應的實際能量權重因子，其中，所述確定實際能量權重因子的步驟包括：獲得所述被擊中的晶體單元輸出的最大能量和所述探測器輸出的實際總能量，且根據所述被擊中的晶體輸出的最大能量和所述實際總能量確定實際能量權重因子；
根據所述深度位置對應的參照能量權重因子確定所述實際能量權重因子所對應的被擊中的晶體單元的實際深度位置來獲得單事件在所述探測器模塊內的作用位置；
根據符合事件的兩個單事件在所述探測器模塊內的作用位置確定符合線；及
根據多條符合線重建圖像。
2.如權利要求1所述的成像方法，其特征在于：所述確定參照能量權重因子的步驟包括通過仿真建模確定所述參照能量權重因子。
3.如權利要求1所述的成像方法，其特征在于：所述確定參照能量權重因子的步驟包括：將所述探測器模塊的每一個晶體單元在其深度方向上分為多個層級，且確定每一個所述層級對應的參照能量權重因子。
4.一種成像系統，其特征在于：其包括：
探測器模塊，包括若干晶體單元；
確定單元，用來確定所述探測器的每一個晶體的若干深度位置對應的參照能量權重因子；
處理單元，用來接收所述探測器模塊產生的單事件信號，根據所述單事件信號確定產生最大單事件信號的被擊中的晶體單元和所述被擊中的晶體單元所對應的實際能量權重因子，根據所述深度位置對應的參照能量權重因子確定所述實際能量權重因子所對應的被擊中的晶體單元的實際深度位置來獲得單事件在所述探測器模塊內的作用位置，且根據符合事件的兩個單事件在所述探測器內的作用位置確定符合線；及
圖像重建單元，用來根據多條符合線重建圖像；
其中，所述確定單元用來獲取所述晶體單元在深度位置上輸出的最大能量和所述探測器模塊輸出的總能量，且用來根據所述最大能量和所述總能量確定該深度位置對應的參照能量權重因子；
所述處理單元用來獲得所述被擊中的晶體單元輸出的最大能量和所述探測器模塊輸出的實際總能量，且用來根據所述被擊中的晶體單元輸出的最大能量和所述實際總能量確定實際能量權重因子。
5.如權利要求4所述的成像系統，其特征在于：所述確定單元通過仿真建模確定所述參照能量權重因子。
6.如權利要求4所述的成像系統，其特征在于：所述確定單元用來將所述探測器模塊的每一個晶體單元在其深度方向上分為多個層級，且確定每一個所述層級對應的參照能量權重因子。
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