[發明專利]具有高溫測試功能的測試座

在審

• 申請號: 201610925765.5
• 申請日: 2016-10-24
• 公開（公告）號: CN107976561A
• 公開（公告）日: 2018-05-01
• 發明（設計）人: 何文仁;侯瑞毅;蔡進傳
• 申請（專利權）人: 豪威科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司11228
• 代理人: 毛廣杰

1.一種具有高溫測試功能的測試座，其特征在于，包括：

一測試座框架，為塑膠材料所形成；

一測試座框罩，為金屬材料所形成，配置于該測試座框架之下；

至少一浮置板，配置于該測試座框罩之中，多個探針配置于該至少一浮置板之中；以及

至少一探測針座，用以容納該多個探針穿過其中。

2.如權利要求1所述的具有高溫測試功能的測試座，其特征在于，該塑膠材料為聚醚酰亞胺，該金屬材料為鋁。

3.如權利要求1所述的具有高溫測試功能的測試座，其特征在于，該至少一探測針座包括一探測針上座與一探測針底座，其中該探測針上座與該探測針底座上分別設有多個探針穿孔以使得該多個探針穿過該多個探針穿孔。

4.如權利要求1所述的具有高溫測試功能的測試座，其特征在于，還包括一加熱裝置與一過熱保護裝置，均配置于該測試座框罩之中。

5.如權利要求1所述的具有高溫測試功能的測試座，其特征在于，該測試座框架整體包覆該測試座框罩。

6.一種具有高溫測試功能的測試座，其特征在于，包含：

一上蓋構件，包括一上蓋框架、至少一透鏡架與至少一工作壓件，其中該至少一透鏡架與該至少一工作壓件配置于該上蓋框架之中；以及

一測試座構件，用以樞接該上蓋構件；

其中該測試座構件包括一測試座框架、一測試座框罩、至少一浮置板、至少一加熱裝置與至少一探測針座；

其中該測試座框架為塑膠材料所形成；

其中該測試座框罩為金屬材料所形成，配置于該測試座框架之下；

其中該至少一浮置板，配置于該測試座框罩之中，多個探針配置于該至少一浮置板之中；以及

其中該至少一探測針座，用以容納該多個探針穿過其中。

7.如權利要求6所述的具有高溫測試功能的測試座，其特征在于，該上蓋構件還包括一上蓋，樞接該上蓋框架。

8.如權利要求6所述的具有高溫測試功能的測試座，其特征在于，該至少一探測針座包括一探測針上座與一探測針底座，其中該探測針上座與該探測針底座上分別設有多個探針穿孔以使得該多個探針穿過該多個探針穿孔。

9.如權利要求6所述的具有高溫測試功能的測試座，其特征在于，還包括一過熱保護裝置，配置于該測試座框罩之中。

10.如權利要求6所述的具有高溫測試功能的測試座，其特征在于，該測試座框架整體包覆該測試座框罩。