[發明專利]一種銅銦鎵硒薄膜發電玻璃激光刻劃方法有效
| 申請號: | 201610897538.6 | 申請日: | 2016-10-15 |
| 公開(公告)號: | CN106328728B | 公開(公告)日: | 2017-08-04 |
| 發明(設計)人: | 彭壽;朱登華;劉小雨;王寶玉 | 申請(專利權)人: | 凱盛光伏材料有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0224 | 分類號: | H01L31/0224;H01L31/18;B23K26/362;B23K101/36 |
| 代理公司: | 安徽省蚌埠博源專利商標事務所34113 | 代理人: | 楊晉弘 |
| 地址: | 233010 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 銅銦鎵硒 薄膜 發電 玻璃 激光 刻劃 方法 | ||
1.一種銅銦鎵硒薄膜發電玻璃激光刻劃方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1)在玻璃襯底上生長氮化硅阻擋層;
S2)在氮化硅阻擋層上濺射金屬背電極;
S3)沿刻劃方向分別設置第一激光刻劃系統與第二激光刻劃系統,構成并排的雙激光刻劃系統;
S4)啟動第一激光刻劃系統刻劃第一道劃線,將金屬背電極劃開,分隔金屬背電極;
S5)在金屬背電極上生長PN結層;
S6)啟動雙激光刻劃系統刻劃第二道劃線,將PN結層劃開,提供前后電極相連的通道;第一與第二激光刻劃系統同時同步刻劃,第一激光刻劃系統的重復頻率低于第二激光刻劃系統的重復頻率;
S7)在PN結層上濺射透明導電氧化物薄膜AZO層;
S8)啟動雙激光刻劃系統刻劃第三道劃線,將透明導電氧化物薄膜AZO層與PN結層劃開,形成內部串聯結構;第一與第二激光刻劃系統同時同步刻劃,第一激光刻劃系統的重復頻率低于第二激光刻劃系統的重復頻率;第一激光刻劃系統刻劃掉透明導電氧化物薄膜AZO層,并在PN結層形成100~1000nm凹槽,第二激光刻劃系統刻劃掉剩余的PN結層。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





