[發(fā)明專(zhuān)利]電子裝置及其驅(qū)動(dòng)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610892579.6 | 申請(qǐng)日: | 2016-10-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107943353B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-11-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 戴亞翔;張君毅;邱韋嘉;蕭培宏 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 敦泰電子股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F3/044 | 分類(lèi)號(hào): | G06F3/044 |
| 代理公司: | 北京戈程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11314 | 代理人: | 程偉;王錦陽(yáng) |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子 裝置 及其 驅(qū)動(dòng) 方法 | ||
本發(fā)明提出了一種電子裝置及其驅(qū)動(dòng)方法,其包括一第一掃描線、一第二掃描線、一第一數(shù)據(jù)線、一感測(cè)線、一第一晶體管、一像素、一第二晶體管、一充放電裝置。第一晶體管連接至該第一掃描線及該第一數(shù)據(jù)線。像素具有一像素電極連接至該第一晶體管。第二晶體管連接至該第一掃描線、像素的一共同電極及感測(cè)線。充放電裝置耦合至該第二晶體管、第二掃描線及感測(cè)線。當(dāng)該第一掃描線為高電位時(shí),該充放電裝置被充電,當(dāng)該第二掃描線為高電位時(shí),該感測(cè)線感測(cè)該充放電裝置的電流,以判斷是否有一外物的觸碰或接近。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及觸控檢測(cè)的技術(shù)領(lǐng)域,特別是指一種利用電荷分享以進(jìn)行觸控檢測(cè)的電子裝置。
背景技術(shù)
觸控面板的技術(shù)原理是當(dāng)手指或其他介質(zhì)接觸到屏幕時(shí),依據(jù)不同感應(yīng)方式,以檢測(cè)電壓、電流、聲波或紅外線等,進(jìn)而測(cè)出觸壓點(diǎn)的坐標(biāo)位置。例如電阻式觸控面板即為利用上、下電極間的電位差,用以計(jì)算施壓點(diǎn)位置來(lái)檢測(cè)出觸控點(diǎn)所在。電容式觸控面板是利用排列的透明電極與人體之間的靜電結(jié)合所產(chǎn)生的電容變化,從所產(chǎn)生的電流或電壓來(lái)檢測(cè)其坐標(biāo)。
依據(jù)電容觸控技術(shù)原理而言,其可分為表面式電容觸控感測(cè)(SurfaceCapacitive)及投射式電容觸控感測(cè)(Projected Capacitive)這兩種技術(shù)。表面式電容觸控感測(cè)技術(shù)架構(gòu)雖構(gòu)造簡(jiǎn)單,但不易實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)觸控以及較難克服電磁干擾(Electromagnetic Interference,EMI)及噪訊的問(wèn)題,使得現(xiàn)今大多朝向投射電容式觸控感測(cè)技術(shù)發(fā)展。
投射式電容觸控感測(cè)(Projected Capacitive)技術(shù)又可分為自感電容型(Selfcapacitance)及互感電容型(Mutual capacitance)。自感電容型是指觸控物與導(dǎo)體線間產(chǎn)生電容耦合,并量測(cè)導(dǎo)體線的電容變化,用以確定觸碰發(fā)生。而互感電容型則是當(dāng)觸碰發(fā)生,會(huì)在鄰近兩層導(dǎo)體線間產(chǎn)生電容耦合現(xiàn)象。
內(nèi)嵌式(InCell)制作方法能使得顯示器厚度輕薄化,而成為現(xiàn)今中小尺寸的觸控顯示器產(chǎn)品的主流技術(shù)。若要將現(xiàn)有的觸控技術(shù)擴(kuò)展至大尺寸觸控面板,會(huì)因?yàn)槌叽缭龃蠖黾与娮桦娙葸t延(RC Delay),于顯示面板驅(qū)動(dòng)時(shí)造成雜訊干擾,影響觸控效果。因此,現(xiàn)有觸碰檢測(cè)技術(shù)實(shí)仍有改善的空間。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的主要是在提供一電子裝置,其中,該電子裝置利用電荷分享,以檢測(cè)是否有一外物的觸碰或接近。
依據(jù)本發(fā)明的一特色,本發(fā)明提出一種電子裝置,其包括一第一掃描線、一第二掃描線、一第一數(shù)據(jù)線、一感測(cè)線、一第一晶體管、一像素、一第二晶體管、一充放電裝置。該第一晶體管連接至該第一掃描線及該第一數(shù)據(jù)線。該像素具有一像素電極連接至該第一晶體管。該第二晶體管連接至該第一掃描線、該像素的一共同電極及該感測(cè)線。該充放電裝置耦合至該第二晶體管、該第二掃描線及該感測(cè)線;其中,當(dāng)該第一掃描線為高電位時(shí),該充放電裝置被充電,當(dāng)該第二掃描線為高電位時(shí),該感測(cè)線感測(cè)該充放電裝置的電流,以判斷是否有一外物的觸碰或接近。
依據(jù)本發(fā)明的另一特色,本發(fā)明提出一種電子裝置的驅(qū)動(dòng)方法,該電子裝置具有一第一掃描線、一第二掃描線、一第一數(shù)據(jù)線、一感測(cè)線及一充放電裝置,該充放電裝置耦合至該該第二掃描線、該第一數(shù)據(jù)線及該感測(cè)線,該驅(qū)動(dòng)方法于一第一時(shí)間間隔,驅(qū)動(dòng)該第一掃描線為高電位,以使該充放電裝置被充電;以及于一第二時(shí)間間隔,驅(qū)動(dòng)該第二掃描線為高電位,以使該感測(cè)線感測(cè)該充放電裝置的電流,據(jù)以判斷是否有一外物的觸碰或接近。
附圖說(shuō)明
圖1為示意地顯示本發(fā)明的電子裝置的示意圖。
圖2為本發(fā)明電子裝置的運(yùn)作示意圖。
圖3為本發(fā)明電子裝置的電路圖。
圖4及圖5為圖3的電子裝置的運(yùn)作示意圖。
圖6、圖7及圖8為圖3的電子裝置的模擬示意圖。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計(jì)算機(jī)能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機(jī)傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶(hù)和計(jì)算機(jī)之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來(lái)自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出
- 一種在多種電子設(shè)備,尤其是在電子服務(wù)提供商的電子設(shè)備和電子服務(wù)用戶(hù)的電子設(shè)備之間建立受保護(hù)的電子通信的方法
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