[發(fā)明專利]一種帶有外延調(diào)制區(qū)的半導(dǎo)體裝置及其制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610889084.8 | 申請日: | 2016-10-12 |
| 公開(公告)號: | CN107946349A | 公開(公告)日: | 2018-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳文鎖;楊嬋;劉建;陳興;楊偉;歐宏旗;鐘怡 | 申請(專利權(quán))人: | 重慶中科渝芯電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L29/872;H01L21/329 |
| 代理公司: | 重慶大學(xué)專利中心50201 | 代理人: | 王翔 |
| 地址: | 401332 *** | 國省代碼: | 重慶;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 帶有 外延 調(diào)制 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
1.一種帶有外延調(diào)制區(qū)的半導(dǎo)體裝置,其特征在于:包括重?fù)诫s第一導(dǎo)電類型襯底層(10)、輕摻雜第一導(dǎo)電類型外延層(20)、第二導(dǎo)電類型保護(hù)環(huán)區(qū)(21)、第一導(dǎo)電類型外延調(diào)制區(qū)(22)和場介質(zhì)層(30);
所述輕摻雜第一導(dǎo)電類型外延層(20)覆蓋于重?fù)诫s第一導(dǎo)電類型襯底層(10)之上;
所述第二導(dǎo)電類型保護(hù)環(huán)區(qū)(21)覆蓋于輕摻雜第一導(dǎo)電類型外延層(20)之上的部分表面;
所述第一導(dǎo)電類型外延調(diào)制區(qū)(22)浮空于輕摻雜第一導(dǎo)電類型外延層(20)之中;
所述場介質(zhì)層(30)覆蓋于輕摻雜第一導(dǎo)電類型外延層(20)之上的部分表面。
2.一種帶有外延調(diào)制區(qū)的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)將輕摻雜第一導(dǎo)電類型外延層(20)的沿縱向的一部分覆蓋于重?fù)诫s第一導(dǎo)電類型襯底層(10)之上;
2)利用第一掩膜層形成第一導(dǎo)電類型外延調(diào)制區(qū)(22)的圖形,并注入第一導(dǎo)電類型的雜質(zhì);
3)去掉第一掩膜層的光刻膠,并覆蓋輕摻雜第一導(dǎo)電類型外延層(20)的沿縱向的另一部分;
4)將場介質(zhì)層(30)覆蓋于輕摻雜第一導(dǎo)電類型外延層(20)之上;
5)利用第二掩膜層形成閉合環(huán)形結(jié)構(gòu)的第二導(dǎo)電類型保護(hù)環(huán)區(qū)(21);其環(huán)形環(huán)繞部分為有源區(qū);
6)利用第三掩膜層刻蝕所述有源區(qū)上方的場介質(zhì)層(30)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶有外延調(diào)制區(qū)的半導(dǎo)體裝置,其特征在于:所述第二導(dǎo)電類型保護(hù)環(huán)區(qū)(21)為閉合狀的環(huán)形結(jié)構(gòu);環(huán)形包圍的中間區(qū)域?yàn)橛性磪^(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或3的一種帶有外延調(diào)制區(qū)的半導(dǎo)體裝置,其特征在于:所述場介質(zhì)層(30)位于有源區(qū)外部;所述第一導(dǎo)電類型外延調(diào)制區(qū)(22)位于有源區(qū)內(nèi)部。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶有外延調(diào)制區(qū)的半導(dǎo)體裝置,其特征在于:所述第一導(dǎo)電類型外延調(diào)制區(qū)(22)為獨(dú)立的一個(gè)連通區(qū)域或是多個(gè)獨(dú)立的連通區(qū)域;
所述第一導(dǎo)電類型外延調(diào)制區(qū)(22)與第二導(dǎo)電類型保護(hù)環(huán)區(qū)(21)不接觸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶有外延調(diào)制區(qū)的半導(dǎo)體裝置,其特征在于:所述場介質(zhì)層(30)還覆蓋于第二導(dǎo)電類型保護(hù)環(huán)區(qū)(21)之上的部分表面。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種帶有外延調(diào)制區(qū)的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于:所述輕摻雜第一導(dǎo)電類型外延層(20)是分前后兩次工藝完成的,兩次工藝之間完成第一導(dǎo)電類型外延調(diào)制區(qū)(22)所需第一導(dǎo)電類型的雜質(zhì)的注入。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶有外延調(diào)制區(qū)的半導(dǎo)體裝置,其特征在于:在所述步驟6)后,根據(jù)具體器件的不同要求,采用相應(yīng)的工藝在有源區(qū)內(nèi)形成不同結(jié)構(gòu)器件,所述器件包括肖特基整流器、超勢壘整流器、功率MOS或功率FRD。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的
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