[發明專利]用于測試微控制器的存儲單元的方法

在審

• 申請號: 201610870941.X
• 申請日: 2016-09-30
• 公開（公告）號: CN107025946A
• 公開（公告）日: 2017-08-08
• 發明（設計）人: C.格鮑爾;S.胡夫納格爾;E.巴爾曼
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12;G11C29/18
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 胡莉莉,杜荔南

1.用于測試微控制器（100）的存儲單元（101）的方法，其中，所述存儲單元（101）具有一個或多個內存條（130、131、132）、附加內存條（140）和用于執行對所述一個或多個內存條（130、131、132）之一的測試的測試單元（120），其中，所述存儲單元（101）擁有至少兩個可同時使用的通信信道（131a、132a），用于自由選擇地訪問所述一個或多個內存條（130、131、132）和附加內存條（140）中的各一個，

- 其中，所述一個或多個內存條（130、131、132）中的要測試的內存條（131）的存儲內容被寫入到附加內存條（140）中（210），

- 其中，所述測試單元（120）的訪問請求被傳遞給所述要測試的內存條（131），并且其中對所述要測試的內存條（131）的測試由測試單元（120）來執行（220），

- 其中，在執行所述測試期間：

○ 如果對要測試的內存條（131）的存儲內容的訪問請求被記錄，那么所述訪問請求被轉交給附加內存條（140）（231）并且在所述附加內存條（140）中的存儲內容被訪問，

○ 如果對所述一個或多個內存條（130、131、132）中的其余的內存條之一（132）的存儲內容的訪問請求被記錄，那么所述訪問請求被傳遞給相應的內存條（132）（231）并且所述其余的內存條（130、131、132）中的相應的內存條（132）的存儲內容被訪問。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，執行對所述要測試的內存條（131）的測試（220），而且同時訪問在所述附加內存條（140）中的存儲內容（231），和/或其中執行對所述要測試的內存條（131）的測試（220），而且同時訪問所述一個或多個內存條（130、131、132）中的相應的其余的內存條（132）的存儲內容（231）。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中，在已經執行所述測試之后，將所述存儲內容從附加內存條（140）復制回到被測試的內存條（131）中（151）。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，在已經將所述存儲內容從附加內存條（140）復制回到被測試的內存條（131）之后，將所述一個或多個內存條（130、131、132）中的作為下一個要測試的內存條（132）的存儲內容復制到附加內存條（140）中，執行對所述作為下一個要測試的內存條（132）的測試并且在所執行的測試之后將相對應的存儲內容復制回到被測試的內存條（132）中。

5.根據權利要求1或2所述的方法，其中，在已經執行所述測試之后，不將所述存儲內容從附加內存條（140）復制回到被測試的內存條（131）中（252）。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，在已經執行所述測試之后，將所述一個或多個內存條（130、131、132）中的作為下一個要測試的內存條（132）的存儲內容復制到之前被測試的內存條（131）中，并且執行對所述作為下一個要測試的內存條（132）的測試。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，如果在執行對所述作為下一個要測試的內存條（132）的測試期間，對所述作為下一個要測試的內存條（132）的存儲內容的訪問請求被記錄，那么所述訪問請求被轉交給所述之前被測試的內存條（131）并且在所述之前被測試的內存條（131）中的存儲內容被訪問。

8.根據上述權利要求之一所述的方法，其中，所述一個或多個內存條（130、131、132）中的各個內存條和所述附加內存條（140）具有相同的或者基本上相同的存儲容量。

9.根據上述權利要求之一所述的方法，其中，在所執行的對所述要測試的內存條（131）的測試的過程中，尤其是通過借助于校驗和的錯誤識別、通過校驗和寄存器（430）、通過校驗和寄存器（430）的校驗和比較和/或通過計算參考簽名來執行對所述測試單元（120）的錯誤識別。