[發明專利]用于測試微控制器的存儲單元的方法

在審

• 申請號: 201610870941.X
• 申請日: 2016-09-30
• 公開（公告）號: CN107025946A
• 公開（公告）日: 2017-08-08
• 發明（設計）人: C.格鮑爾;S.胡夫納格爾;E.巴爾曼
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12;G11C29/18
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 胡莉莉,杜荔南

技術領域

本發明涉及一種用于測試微控制器的存儲單元的方法、一種用于微控制器的存儲單元的存儲控制器、一種微控制器以及一種用于執行該方法的計算機程序。

背景技術

為了保證微控制器中的諸如RAM存儲器之類的存儲單元的功能安全性，可以對這些存儲單元進行錯誤檢查。為此目的，例如可以執行所謂的“存儲器內置自測試”（MBIST，Memory Built In Self Test）。在此，例如可以涉及集成在微控制器中的執行所限定的存儲器測試序列的硬件元件。

WO 2013/102230 A1例如描述了對集成開關電路的主存儲器的測試。“內置自測試”模塊（BBISTM）選擇主存儲器的一部分，將該部分寫入到臨時存儲器中并且測試主存儲器的該部分。在US 2014/0289575 A1和US 8 020 053 B2中也分別描述了MBIST方法。

發明內容

根據本發明，提出了具有獨立權利要求的特征的一種用于測試微控制器的存儲單元的方法、一種用于微控制器的存儲單元的存儲控制器、一種微控制器和一種用于執行該方法的計算機程序。有利的設計方案是從屬權利要求以及隨后的描述的主題。

該存儲單元具有一個或多個內存條（Speicherbank）和附加內存條。該存儲單元尤其是被構造為微控制器的RAM存儲器，內存條和附加內存條尤其是分別被構造為RAM條（RAM-Bank）。

該存儲單元具有至少兩個可同時使用的通信信道，所述通信信道中的每個都可以被用于自由選擇地訪問所述一個或多個內存條和所述附加內存條中的各一個。因此，尤其是可以同時訪問至少兩個不同的內存條（任意的內存條或附加內存條）。

此外，該存儲單元還具有用于執行對所述一個或多個內存條和可選地所述附加內存條的測試的測試單元。所述測試尤其是在所謂“存儲器內置自測試”（MBIST）的過程中被執行。尤其是應將“存儲器內置自測試”理解為集成在微控制器中的、被設立為自動化地執行所限定的存儲器測試序列的硬件元件。在此，可以采用不同的測試序列。測試單元尤其是被構造為所謂的“在線存儲器內置自測試控制器（online Memory Built In Self Test Controller）”（MBIST控制器）。

該存儲單元尤其是具有根據本發明的存儲控制器的優選的設計方案。該存儲控制器尤其是通過至少兩個可同時使用的通信信道與所述一個或多個內存條以及所述附加內存條保持通信連接。因此，尤其是可以同時訪問所述一個或多個內存條的和所述附加內存條中的至少兩個不同的內存條。該存儲控制器尤其是以程序技術被設立為執行根據本發明的方法的優選的實施方式。為此目的，該存儲控制器尤其是記錄對所述一個或多個內存條和所述附加內存條的訪問請求、尤其也還有測試單元的訪問請求，并且相對應地轉發所述訪問請求。

在該方法的過程中，將所述一個或多個內存條中的要測試的內存條的存儲內容寫入到附加內存條中。測試單元尤其是確定所述一個或多個內存條中的應該被測試的內存條，并且將相對應的訪問請求傳送給存儲控制器。于是，存儲控制器和/或測試單元促使將存儲內容寫入到附加內存條中。測試單元的訪問請求由存儲控制器傳遞給要測試的內存條，并且由測試單元來執行對所述要測試的內存條的測試。

對存儲單元的測試尤其是在微控制器的連續常規運行期間被執行。由于所述至少兩個通信信道，可能的是，外部源（例如微控制器中的處理器、其它的微控制器、總線主機）在常規運行的過程中與測試無關地訪問所述一個或多個內存條的存儲內容。尤其是通過通信系統（例如總線）來傳送的相對應的訪問請求由存儲控制器記錄。

如果在執行測試期間由存儲控制器記錄了對要測試的內存條的存儲內容的訪問請求，那么該存儲控制器將所述訪問請求傳遞給附加內存條。在這種情況下，在執行測試期間，有利地與所執行的測試同時并且無關地訪問在附加內存條中（而不是在要測試的內存條中）的存儲內容。

如果在執行測試期間由存儲控制器記錄了對在當前的時間點未被測試的其余的內存條（只要存在的話）之一的存儲內容的訪問請求，那么該訪問請求被傳遞給相應的內存條。在這種情況下，在所執行的測試期間，有利地與使用所述至少兩個通信信道的一個來執行的測試同時并且無關地通過所述至少兩個通信信道中的另一個來訪問相應的內存條的存儲內容。