[發明專利]觸控面板及位置檢測方法

有效

• 申請號: 201610858561.4
• 申請日: 2013-02-08
• 公開（公告）號: CN106886326B
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發明（設計）人: 關沢光洋;櫻井聰;清水信吉;倉島茂美
• 申請（專利權）人: 富士通電子零件有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044;G06F3/045
• 代理公司: 11038 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 張麗<國際申請>=<國際公布>=<進入國

一種觸控面板，包含第1導電膜，其具有多個沿一個方向被形成為較長的長條狀的分離區域；第2導電膜，其具有多個沿與所述一個方向大致直交的另一個方向被形成為較長的長條狀的分離區域；以及第3導電膜，所述第1導電膜的分離區域沿所述另一個方向排列，所述第2導電膜的分離區域沿所述一個方向排列，其中，通過所述第1導電膜和所述第2導電膜，進行基于靜電電容耦合的坐標位置的位置檢測，并且通過檢測所述第2導電膜和所述第3導電膜的接觸位置的電位，進行所述接觸的坐標位置的位置檢測。

本發明是2014年8月11日進入中國國家階段的、國家申請號為“201380008855.2”、發明名稱為“觸控面板及位置檢測方法”的申請的分案申請。

技術領域

本發明涉及一種觸控面板及位置檢測方法。

背景技術

觸控面板是可直接向顯示器進行輸入的輸入裝置，在多數情況下，其被設置在顯示器的前面以被使用。因為根據通過顯示器所獲得的視覺信息可直接進行輸入，所以觸控面板可被應用于各種用途。

作為這樣的觸控面板，廣為周知的有電阻膜方式及靜電容方式。電阻膜方式的觸控面板是在形成有透明導電膜的上部電極基板及下部電極基板上各透明導電膜彼此相向(面對)地被設置，通過在上部電極基板的一點進行施力，各透明導電膜彼此接觸，以進行施力位置的位置檢測。

電阻膜方式的觸控面板可大致分為4線式、5線式、及二極體式。4線式是在上部電極基板或下部電極基板中的任一個上設置有X軸電極，在另一個上設置有Y軸電極(例如，參見專利文獻1)。另外，5線式是在下部電極基板上設置有X軸電極及Y軸電極，上部電極基板具有用于檢測電壓的探針的功能(例如，參見專利文獻2)。此外，二極體式是在下部電極基板上設置有二極體結構，并設置有用于施加電壓的2個電極及用于監視電位的4個電極，因為與在具有用于檢測電壓的探針的功能的上部電極基板上所形成的電極一起，共形成了7個電極，所以也被稱為7線式(例如，參見專利文獻3)。

另外，靜電容方式是通過手指等接近觸控面板，對觸控面板的透明電極等中所流動的電流進行檢測，以進行位置檢測。

再有，因為在觸控面板中靜電容方式及電阻膜方式具有不同的特征，所以還公開了一具有將電阻膜方式觸控面板和靜電容方式觸控面板進行了積層的結構的觸控面板(例如，參見專利文獻4、5)。

<現有技術文獻>

<專利文獻>

專利文獻1：(日本)特開2004-272722號公報

專利文獻2：(日本)特開2008-293129號公報

專利文獻3：(日本)特開2005-196280號公報

專利文獻4：(日本)實用新型登錄第3132106號公報

專利文獻5：(日本)實用新型登錄第3139196號公報

專利文獻6：(日本)特開2009-116849號公報

發明內容

<本發明所要解決的技術問題>

然而，因為靜電容方式觸控面板是基于靜電電容耦合的檢測方式，所以其具有不需要進行壓下、僅進行接觸(touch)就可以進行位置檢測的特征，但是，在進行基于絕緣體的接觸時不能進行位置檢測。另外，在電阻膜方式觸控面板中，盡管具有不需考慮與觸控面板接觸的物體的材質等的特征，但是，因為位置檢測是通過作為上部電阻膜的透明導電膜和作為下部電阻膜的透明導電膜相接觸而進行的，所以，需要以預定(predetermined)的力對觸控面板進行壓下。

另一方面，專利文獻4及5中所記載的是具有將靜電容方式觸控面板和電阻膜方式觸控面板進行了積層的結構，其具有靜電容方式觸控面板和電阻膜方式觸控面板這兩者的良好特征。