[發明專利]觸控面板及位置檢測方法

有效

• 申請號: 201610858561.4
• 申請日: 2013-02-08
• 公開（公告）號: CN106886326B
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發明（設計）人: 關沢光洋;櫻井聰;清水信吉;倉島茂美
• 申請（專利權）人: 富士通電子零件有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044;G06F3/045
• 代理公司: 11038 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 張麗<國際申請>=<國際公布>=<進入國

1.一種觸控面板，其特征在于，包括：

第1導電膜，其具有多個沿一個方向被形成為較長的長條狀的分離區域；

第2導電膜，其具有多個沿另一個方向被形成為較長的長條狀的分離區域，所述另一個方向與所述一個方向大致直交；以及

第3導電膜，

其中，所述第1導電膜的多個分離區域沿所述另一個方向排列，所述第2導電膜的多個分離區域沿所述一個方向排列，

通過所述第1導電膜和所述第2導電膜，進行基于靜電電容耦合的坐標位置的位置檢測，

通過檢測出所述第2導電膜和所述第3導電膜的接觸位置的電位，進行所述接觸的坐標位置的位置檢測，

在使用所述第1導電膜和所述第2導電膜進行位置檢測的情況下，使用所述第2導電膜的多個分離區域的一部分，

在使用所述第2導電膜和所述第3導電膜進行位置檢測的情況下，使用所述第2導電膜的多個分離區域的全部。

2.根據權利要求1所述的觸控面板，其中，所述第2導電膜形成在第2透明基板的一個面上，

所述第3導電膜形成在第3透明基板的一個面上，

所述第2透明基板的形成所述第2導電膜的一個面和所述第3透明基板的形成所述第3導電膜的一個面被配置為互相面對。

3.根據權利要求2所述的觸控面板，其中，在所述第3透明基板的另一個面上形成有第4導電膜。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的觸控面板，其中，所述第2導電膜的分離區域之間的間隔被形成為，比所述第1導電膜的分離區域之間的間隔還窄。

5.根據權利要求1所述的觸控面板，其中，

所述第1導電膜的各分離區域與電流檢測部連接，

所述第2導電膜的分離區域的一部分與電流檢測部連接，

所述第2導電膜的各分離區域與電位檢測部連接，

所述第3導電膜與電位檢測部連接。

6.根據權利要求5所述的觸控面板，其中，

所述第2導電膜的各分離區域上連接有，用于使所述第2導電膜的各分離區域沿所述另一個方向產生電位梯度的開關，

所述第3導電膜上連接有，用于使所述第3導電膜沿所述一個方向產生電位梯度的開關。

7.一種觸控面板，其特征在于，包括：

第1基板，其上形成有多個帶狀的第1導電膜，所述第1導電膜沿第1方向延伸，并在所述第1方向的一個端部具有電極；

第2基板，其上形成有多個帶狀的第2導電膜，所述第2導電膜沿與所述第1方向直交的第2方向延伸，并在所述第2方向的兩個端部具有電極；以及

第3基板，其上形成有面狀的第3導電膜，

其中，所述第1基板、所述第2基板、及所述第3基板依次被積層，

在使用所述第1導電膜和所述第2導電膜進行位置檢測的情況下，驅動多個所述第2導電膜的一部分，

在使用所述第2導電膜和所述第3導電膜進行位置檢測的情況下，驅動多個所述第2導電膜的全部。

8.根據權利要求7所述的觸控面板，其中，

在使用所述第1導電膜和所述第2導電膜進行位置檢測的情況下，對多個所述第2導電膜每隔一個地進行驅動。