[發明專利]電容測量有效
| 申請號： | 201610848320.1 | 申請日： | 2016-09-23 |
| 公開（公告）號： | CN106556747B | 公開（公告）日： | 2020-06-16 |
| 發明（設計）人： | C·S·比爾克;J·A·克利里;D·S·蒙提拉;E·A·莉麗斯;P·歐克納;E·E·英格列斯;P·帕拉特;K·安布萊奇;W·瑞恩斯;J·克洛斯 | 申請（專利權）人： | 亞德諾半導體集團 |
| 主分類號： | G01R27/26 | 分類號： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人： | 陳華成 |
| 地址： | 百慕大群島(*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電容 測量 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于亞德諾半導體集團，未經亞德諾半導體集團許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610848320.1/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種貼片電容的實驗方法
- 下一篇：用于系統誤差檢測的測量裝置和測量方法
