[發(fā)明專利]電容測量有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610848320.1 | 申請日： | 2016-09-23 |
| 公開（公告）號： | CN106556747B | 公開（公告）日： | 2020-06-16 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | C·S·比爾克;J·A·克利里;D·S·蒙提拉;E·A·莉麗斯;P·歐克納;E·E·英格列斯;P·帕拉特;K·安布萊奇;W·瑞恩斯;J·克洛斯 | 申請（專利權(quán)）人： | 亞德諾半導(dǎo)體集團 |
| 主分類號： | G01R27/26 | 分類號： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人： | 陳華成 |
| 地址： | 百慕大群島(*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電容 測量 | ||
【權(quán)利要求書】：
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